光學(xué)膜厚控制器報(bào)價(jià)光學(xué)膜厚控制器報(bào)價(jià) 型號:MN666-GM-X03庫號：M12664  

真空鍍膜，膜厚控制儀

本儀器是相位鎖定放大器，用于光學(xué)鍍膜膜層厚度測量和控制。它由主信號通道，參考信號通道和四階低Q濾波技術(shù)組成，有很強(qiáng)的諧波抑制能力和動態(tài)儲備，能測量深埋于噪聲或直流漂移中微弱的信號幅度和相位。

采用進(jìn)品高元件制作和DAAS是數(shù)字頻譜分析系統(tǒng)測試，確保儀器具有的質(zhì)量和*的性能。

高穩(wěn)定性。操作簡便，實(shí)用性強(qiáng)

技術(shù)參數(shù)：

GM-X03

主信號通道：電壓單端輸入

滿程靈敏度：0.5mV~500mV

頻率范圍：1KHz,±5%

鎖相噪聲：≦4nV

線性誤差：≦1%

零點(diǎn)漂移：0.2%（小時(shí)）

參考信號通道：電壓單端輸入

輸入幅度：20mV~700mV

頻率范圍：1KHz,±5%

相位鎖定范圍：≧320°

電源電壓：220VAC/50Hz

外形尺寸：寬482x高89x深322（mm）/標(biāo)準(zhǔn)2U面板

凈重：7.5Kg

本儀器是相位鎖定放大器，用于光學(xué)鍍膜膜層厚度測量和控制。它由主信號通道，參考信號通道和四階低Q濾波技術(shù)組成，有很強(qiáng)的諧波抑制能力和動態(tài)儲備，能測量深埋于噪聲或直流漂移中微弱的信號幅度和相位。

采用進(jìn)品高元件制作和DAAS是數(shù)字頻譜分析系統(tǒng)測試，確保儀器具有的質(zhì)量和*的性能。

高穩(wěn)定性。操作簡便，實(shí)用性強(qiáng)

技術(shù)參數(shù)：

GM-X03

主信號通道：電壓單端輸入

滿程靈敏度：0.5mV~500mV

頻率范圍：1KHz,±5%

鎖相噪聲：≦4nV

線性誤差：≦1%

零點(diǎn)漂移：0.2%（小時(shí)）

參考信號通道：電壓單端輸入

輸入幅度：20mV~700mV

頻率范圍：1KHz,±5%

相位鎖定范圍：≧320°

電源電壓：220VAC/50Hz

外形尺寸：寬482x高89x深322（mm）/標(biāo)準(zhǔn)2U面板

凈重：7.5Kg