基本介紹 ：射線探傷是利用 X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時(shí)強(qiáng)度衰減的不同，檢測被檢物中缺陷的一種無損檢測方法。 工作原理 :被測物體各部分的厚度或密度因缺陷的存在而有所不同。當(dāng)X射線或γ射線在穿透被檢物時(shí),射線被吸收的程度也將不同。若射線的原始強(qiáng)度為I0,通過線吸收系數(shù)為 μ的材料至距離l后，強(qiáng)度因射線探傷被吸收而衰減為I，其關(guān)系為。若將受到不同程度吸收的射線投射在*上,經(jīng)顯影后可得到顯示物體厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片（X射線底片）。這種方法稱為X射線照相法。如用熒光屏代替膠片直接觀察被檢物體，稱為透視法。如用光敏元件逐點(diǎn)測定透過后的射線強(qiáng)度而加以記錄或顯示，則稱為儀器測定法。 X 射線是在高真空狀態(tài)下用高速電子沖擊陽極靶而產(chǎn)生的。γ射線是放射性同位素在原子蛻變過程中放射出來的。兩者都是具有高穿透力、波長很短的電磁波。不同厚度的物體需要用不同能量的射線來穿透，因此要分別采用不同的射線源。例如由X射線管發(fā)出的X射線（當(dāng)電子的加速電壓為400千伏時(shí)），放射性同位素60Co所產(chǎn)生的γ射線和由 20兆電子伏直線加速器所產(chǎn)生的X射線，能穿透的zui大鋼材厚度分別約為90毫米、230毫米和600毫米。 特點(diǎn)特色 :射線照相法能較直觀地顯示工件內(nèi)部缺陷的大小和形狀,因而易于判定缺陷的性質(zhì),射線底片可作為檢驗(yàn)的原始記錄供多方研究并作*保存。但這種方法耗用的*等器材費(fèi)用較高,檢驗(yàn)速度較慢，只宜探查氣孔、夾渣、縮孔、疏松等體積性缺陷，而不易發(fā)現(xiàn)間隙很小的裂紋和未熔合等缺陷以及鍛件和管、棒等型材的內(nèi)部分層性缺陷。此外，射線對人體有害，需要采取適當(dāng)?shù)姆雷o(hù)措施。 應(yīng)用價(jià)值 :射線照相法已廣泛應(yīng)用于焊縫和鑄件的內(nèi)部質(zhì)量檢驗(yàn)，例如各種受壓容器、鍋爐、船體、輸油和輸氣管道等的焊縫，各種鑄鋼閥門、泵體、石油鉆探和化工、煉油設(shè)備中的受壓鑄件，精密鑄造的透平葉片，汽車工業(yè)用的各種鋁鎂合金鑄件等。透視法的靈敏度較低，儀器測定法操作比較麻煩，兩者均應(yīng)用不多。
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