碳酸鈣激光粒徑分布儀，濕法激光粒度儀生產(chǎn)廠家
*，碳酸鈣粉體的粒度分布是重要的性能規(guī)格指標(biāo)。目前zui普及的碳酸鈣粉體粒度分布測(cè)試手段是使用激光粒度儀采用濕法分散的方法進(jìn)行測(cè)試。采用這種方法測(cè)試通碳酸鈣粉體時(shí)，操作流程非常簡(jiǎn)單。直接將粉體加入到水中制成懸浮液，然后加入到激光粒度儀的進(jìn)樣器中測(cè)試即可。更多激光粒度儀產(chǎn)品信息昆山鷺工精密儀器有限公司黃工：。
碳酸鈣激光粒徑分布儀，濕法激光粒度儀生產(chǎn)廠家
適用范圍
LAP-W2000廣泛應(yīng)用于水泥、陶瓷、乳液、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、鉆井泥漿、磨料、潤(rùn)滑劑、煤粉、泥砂、粉塵、細(xì)胞、細(xì)菌、食品、添加劑、石墨、感光材料、燃料、墨汁、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿、鋁銀漿及其他粉狀物料粒徑的測(cè)量。
，濕法激光粒度儀生產(chǎn)廠家
LAP-W2000主要性能特點(diǎn)
- *的光路設(shè)計(jì)
- 超聲防干燒
- 超聲功率可調(diào)
- 防塵、防震設(shè)計(jì)
- 強(qiáng)防腐設(shè)計(jì)
- 多激光器可選
- 光路自動(dòng)校對(duì)
- *微量循環(huán)系統(tǒng)
- 超寬量程
- 免排氣泡設(shè)計(jì)
- 樣品無(wú)殘留設(shè)計(jì)
- 智能化測(cè)試系統(tǒng)
- 樣品窗快換裝置
LAP-W2000主要技術(shù)參數(shù)：
LAP-W2000技術(shù)參數(shù) | |
規(guī)格型號(hào) | LAP-W2000H |
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 |
測(cè)試范圍 | 0.01μm -2000μm |
探測(cè)器通道數(shù) | 96 |
準(zhǔn)確性誤差 | <1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值） |
重復(fù)性誤差 | <0.5%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值） |
免排氣泡 | 具備免排氣泡設(shè)計(jì)，無(wú)氣泡干擾數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確 |
誤操作保護(hù) | 儀器具備誤操作自我保護(hù)功能，儀器對(duì)誤操作不響應(yīng) |
激光器參數(shù) | 進(jìn)口光纖輸出大功率激光器 λ= 650nm, p>10mW 可選配He-Ne激光器 λ= 632.8nm, p>2mW （可優(yōu)惠3千元） |
操作模式 | 電腦操作 |
測(cè)試速度 | <1min/次（不含樣品分散時(shí)間） |
體積 | 1170mm*460mm*470mm |
重量 | 35Kg |
LAP-W2000是我公司傾力研發(fā)的產(chǎn)品，自上市以來(lái)贏得了廣大客戶的*好評(píng)。LAP-W2000采用*的Mie氏散射原理和會(huì)聚光傅立葉變換光路。高密度探頭及全量程無(wú)縫銜接測(cè)試方法，保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。*的濕法循環(huán)分散系統(tǒng)，保證顆粒測(cè)試過程中無(wú)顆粒沉積現(xiàn)象，測(cè)試排水后無(wú)廢液積存現(xiàn)象，保證了第二次測(cè)試精度，使測(cè)試結(jié)果更真實(shí)可靠；同時(shí)采取了管道無(wú)殘留設(shè)計(jì)，保證了測(cè)試不同樣品的準(zhǔn)確性。*的光路自動(dòng)校對(duì)系統(tǒng)彰顯出LAP-W2000*優(yōu)勢(shì)。更多激光粒度儀產(chǎn)品信息昆山鷺工精密儀器有限公司黃工：。
