表面微粒檢測(cè)儀
表面微粒檢測(cè)儀(SPD)測(cè)量和控制表面微粒污染的---使得其變得更好。新一代的涵蓋了我們核心的表面測(cè)量技術(shù)能夠分辨0.1微米的微粒并且大大增加了當(dāng)今在潔凈室中的使用。表面微粒等級(jí)控制在0.1微米范圍內(nèi),成為了產(chǎn)量和過(guò)程控制中的關(guān)鍵。
優(yōu)點(diǎn)
可預(yù)見的,每次的儀器*恢復(fù)。
減少25-50%的恢復(fù)時(shí)間
減少50%+的顆粒數(shù)
減少干燥處理及晶圓測(cè)試
減少泵的清洗周期
提升MTBC至4X或者更多
提升10%+的工具可用性
減少PM周期時(shí)間
減少故障事件
符合ISO-14644-9表面粒子規(guī)范
新型QIII ULTAR SPD 包括:
HeNe激光光學(xué)0.1微米的分辨率
采用新型的靜態(tài)采樣模式提高測(cè)量精度
新型7寸高分辨率(WVGA)屏幕,顯示清晰的圖像和文字。
新式取樣頭插座設(shè)計(jì),取樣頭更換,更輕易,便利
雙電池插槽設(shè)計(jì),可熱抽換,新式智慧型鋰電池設(shè)計(jì)
收集的資料現(xiàn)在可以被很容易的通過(guò)USB下載
通過(guò)USB接口,軟件可直接被用戶升級(jí)
6個(gè)粒徑通道,增強(qiáng)粒子的區(qū)分的可視性
不溶性微粒檢測(cè)儀
*時(shí)間PM自凈
如何測(cè)量過(guò)程室的潔凈度在PM期間?SPD可以大大減少PM自凈時(shí)間,green-to-green時(shí)間,并且提高了fab的吞吐量,通過(guò)使用QIII SPD,你能直接的測(cè)量物體表面精確的0.1微米的微粒。用QIII SPD開始清潔的結(jié)果是,*時(shí)間復(fù)原所有尺寸的粒子個(gè)數(shù),讓經(jīng)過(guò)處理過(guò)的工具有明顯的效果。
綠色-到-綠色 時(shí)間?(所有PM時(shí)間,包括了自凈時(shí)間)
降低了50%的自凈時(shí)間
保持低的green-to-green時(shí)間
QIII SPD 按PM實(shí)施
MTBC增長(zhǎng)
通過(guò)結(jié)合QIII SPD在PM進(jìn)程中粒子控制,MTBC可以增長(zhǎng)。
舉例1.1:300mm介質(zhì)工具
MTBC pre-QIII SPD: 174 rf hrs
MTBC post-QIII SPD: 300 rf hrs
ROI:3.6個(gè)月
舉例2.
舉例1.2:300mm金屬工具
MTBC pre-QIII SPD: 40 rf hrs
MTBC post-QIII SPD: 110 rf hrs
ROI:0.6個(gè)月