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廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司

探針，AFM探針，原子力顯微鏡探針，veeco探針，Bruker探針

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱鉑悅儀器（上海）有限公司 廣州辦事處
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地廣州市
  • 廠商性質(zhì)代理商
  • 更新時(shí)間2022/8/3 13:42:16
  • 訪問(wèn)次數(shù)2006
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鉑悅儀器自2004年成立以來(lái)，憑借與世界各大儀器的戰(zhàn)略合作關(guān)系，以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營(yíng)管理，提高服務(wù)質(zhì)量，成為中國(guó)國(guó)內(nèi)的儀器供應(yīng)商。鉑悅儀器所提供的產(chǎn)品均屬于高科技行業(yè)，產(chǎn)品包括高精度的分析儀器、檢測(cè)儀器和生產(chǎn)設(shè)備，以及配套的耗材和配件，這些產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、工業(yè)、太陽(yáng)能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、生物、能源、電子、石化等各個(gè)領(lǐng)域并服務(wù)于各大院校、研究所、檢測(cè)機(jī)構(gòu)、及政府部門等。

鉑悅儀器不僅擁有高品質(zhì)的產(chǎn)品，更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售、技術(shù)和售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)，本著客戶*的原則，從客戶的實(shí)際需求出發(fā)，鉑悅儀器為每一位客戶量身訂制Z適合的綜合解決方案，并提供持續(xù)而良好的售后服務(wù)，由此也獲得了廣大客戶的信任與認(rèn)可。

鉑悅儀器的總公司設(shè)立在上海，并在北京、廣州、成都、香港、加拿大設(shè)立了辦事處，在能及時(shí)引進(jìn)*進(jìn)技術(shù)的同時(shí)，保證了鉑悅儀器能快速、有效的為全國(guó)各地的客戶提供良好的服務(wù)。


企業(yè)文化： CREDIT

C- Confidence: 自信

R- Responsibility: 責(zé)任心

E- Efficiency: 效率

D-Diligence: 勤奮

I- Intelligence: 機(jī)智

T- Trust: 信任


AFM探針及配件，X射線熒光測(cè)厚儀，防潮箱，壓片機(jī)，熔樣機(jī)，標(biāo)樣，層析板，SPIP三維圖像處理軟件，電鏡制樣設(shè)備及耗材，Vision顯微鏡，研磨拋光機(jī)，氣體分析儀
探針，AFM探針，原子力顯微鏡探針，veeco探針，Bruker探針
探針，AFM探針，原子力顯微鏡探針，veeco探針，Bruker探針 產(chǎn)品信息

 

探針，AFM探針，原子力顯微鏡探針，veeco探針，Bruker探針
 
探針的工作模式：主要分為掃描（接觸）模式和輕敲模式
探針的結(jié)構(gòu)：懸臂梁+針尖
探針針尖曲率半徑Tip Radius：一般為10nm到幾十nm。
制作工藝：半導(dǎo)體工藝制作
 
常見的探針類型：
1. 導(dǎo)電探針（電學(xué)）：金剛石鍍層針尖，性能比較穩(wěn)定
2 .壓痕探針：金剛石探針針尖（分為套裝和非套裝的）
3. 氮化硅探針：接觸式（分為普通的和銳化的）
4. 磁性探針：應(yīng)用于MFM，通過(guò)在普通tapping和contact模式的探針上鍍Co、Fe等鐵磁性層制備
5. 電化學(xué)探針（STM）: 電學(xué)接觸式和電學(xué)輕敲式
6. FIB大長(zhǎng)徑比探針：測(cè)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)，專為測(cè)量深的溝槽（深孔）以及近似鉛垂的側(cè)面而設(shè)計(jì)生產(chǎn)的。
 
Popular Probes & Applications
Application: High resolution topographical imaging of a wide variety of samples.
Probe Model: TESP, RTESP, OTESPA , NCHV, VL300
Specifications: 40 N/m, 300 kHz
AFM Mode: Tapping
 
Application: High resolution imaging for softer samples （Polymers, biological, and thin films）
Probe Model: FESP, RFESP, OLTESPA, FMV, VLFM
Specifications: 2.8 N/m, 75 kHz
AFM Mode: Tapping or Force Modulation
 
Application: Magnetic and electrical measurements.
Probe Model: MESP, SCM-PIT, OSCM-PT, SCM-PIC
Specifications: 2.8 N/m, 75 kHz
AFM Mode: MFM, EFM, SCM, Conductive AFM / TUNA
 
Application: Liquid Imaging, Force Measurement and pulling, Contact mode imaging in air
Probe Model: MSCT, NP-S, OTR4, OBL
Specifications: .006-.58 N/m
AFM Mode: Contact or Tapping
 
 
模式常用探針型號(hào)
接觸模式
– ESP
– MPP-31100-10
– SNL-10
– DNP-10
– MLCT
– L-10
 
輕敲模式
空氣液體
– MPP-11100-10 （RTESP）
– TESP
– OTESPA
– FESP – SNL-10
– DNP-10
– MLCT
– L-10
 
峰值力輕敲模式
– ScanAsyst-Air
– ScanAsyst-Fluid
– ScanAsyst-Fluid+
 
智能成像模式
– ScanAsyst-Air
– ScanAsyst-Fluid
– ScanAsyst-Fluid+
– ScanAsyst-Air-HR
 
輕敲模式& 相位成像模式
– MPP-11100-10 （RTESP）
– TESP
– OTESPA
– FESP
 
定量納米力學(xué)性能測(cè)試模式
– MPP-11120-10 （RTESPA）
– MPP-12120-10
– MPP-13120-10
– PDNISP-HS
– ScanAsyst-Air
 
磁力顯微鏡模式
– MESP
– MESP-HM
– MESP-LM
– MESP-RC
 
靜電力顯微鏡模式
– SCM-PIT
– MESP
– MESP-RC
– OSCM-PT
 
峰值力隧道電流顯微鏡&導(dǎo)電原子力顯微鏡模式
– SCM-PIC
– SCM-PIT
– DDESP-FM
– PFTUNA
 
更多探針信息，請(qǐng)咨詢鉑悅儀器，謝謝！
 
 
DNP-10
氮化硅探針
用于接觸式或輕敲模式或力的測(cè)量。
非套裝，適用于BioScope AFM 及 Dimension 系列SPM。
每個(gè)基片有4個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.06 - 0.58 N/m，共振頻率為18-65 KHz
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 2.5 - 8.0µm
正面角（FA）: 15 ± 2.5°
背面角（BA）: 25 ± 2.5°
側(cè)面角 （SA）: 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑（Nom）: 20nm
針尖曲率半徑（Max）: 60nm
針尖縮進(jìn) （TSB）（Nom）: 4µm
針尖縮進(jìn)范圍 （TSB）（RNG）: 0 - 7µm
 
 
 
 
 
 
HMX-10
 
HarmoniX探針
用于納米材料樣品的屬性映射，標(biāo)準(zhǔn)樣品的硬度范圍在10MPa到10GPa之間。 HMX探針更適用于硬而粘的樣品表面。彈性系數(shù)2 N/m, 共振頻率為60 kHz, 鋁反射涂層
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
*的“離軸”設(shè)計(jì)，適用于Veeco HarmoniX模式，tr/fl=17N/m。
 
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 4 - 10µm
正面角（FA）: 25 ± 2.5°
背面角（BA）: 15 ± 2.5°
側(cè)面角（SA）: 22.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑（Nom）: 10nm
針尖曲率半徑（Max）: 12nm
針尖縮進(jìn)（TSB）（Nom）: 10µm
針尖縮進(jìn)范圍（TSB）（RNG）: 5 - 15µm
 
 
 
 
 
 
 
MLCT
 
氮化硅探針
用于接觸式、輕敲式或力的測(cè)量，高靈敏度，彈性系數(shù)極低。
每個(gè)基片有6個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.01 - 0.50 N/m
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 2.5 - 8.0µm
正面角 （FA）: 15 ± 2.5°
背面角（BA）: 25 ± 2.5°
側(cè)面角 （SA）: 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑（Nom）: 20nm
針尖曲率半徑（Max）: 60nm
針尖縮進(jìn)（TSB）（Nom）: 4µm
針尖縮進(jìn)范圍（TSB）（RNG）: 0 - 7µm
 
 
 
 
 
MLCT-EXMT-A1

氮化硅探針
用于接觸式、輕敲式或力的測(cè)量，高靈敏度，彈性系數(shù)極低；
適用于Veeco Explorer 及 Caliber 原子力顯微鏡等；
每個(gè)基片有1個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.05 N/m
包裝數(shù)量：10根/盒；套裝
 
Tip Specification針尖參數(shù)
 
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 2.5 - 8.0µm
正面角 （FA）: 15 ± 2.5°
背面角 （BA）: 25 ± 2.5°
側(cè)面角 （SA）: 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑（Nom）: 20nm
針尖曲率半徑（Max）: 60nm
針尖縮進(jìn)（TSB）（Nom）: 4µm
針尖縮進(jìn)范圍（TSB）（RNG）: 0 - 7µm
 
 
 
 
MLCT-MT-A
 
氮化硅探針
用于接觸式、輕敲式或力的測(cè)量，高靈敏度，彈性系數(shù)極低；
適用于Veeco CP-II及 Innova 原子力顯微鏡等；
每個(gè)基片有1個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.05 N/m
包裝數(shù)量：10根/盒；套裝
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 2.5 - 8.0µm
正面角 （FA）: 15 ± 2.5°
背面角 （BA）: 25 ± 2.5°
側(cè)面角（SA）: 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑（Nom）: 20nm
針尖曲率半徑（Max）: 60nm
針尖縮進(jìn)（TSB）（Nom）: 4µm
針尖縮進(jìn)范圍（TSB）（RNG）: 0 - 7µm
 
 
 
 
MLCT-O10
 
氮化硅探針
 
用于接觸式、輕敲式或力的測(cè)量，高靈敏度，彈性系數(shù)極低；
無(wú)針尖設(shè)計(jì)，為用戶的特殊應(yīng)用提供了個(gè)性化的設(shè)計(jì)，如分子或粒子針尖；
每個(gè)基片有6個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.01 - 0.50 N/m
包裝數(shù)量：10根/盒

 
 
 
 
MLCT-UC
 
氮化硅探針
用于接觸式、輕敲式或力的測(cè)量，高靈敏度，彈性系數(shù)極低；
每個(gè)基片有6個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.01 - 0.50 N/m，無(wú)涂層
包裝數(shù)量：10根/盒

注意：如果用戶沒(méi)有添加反射涂層的話不能用于探測(cè)成像或力測(cè)量。
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 2.5 - 8.0µm
正面角 （FA）: 15 ± 2.5°
背面角 （BA）: 25 ± 2.5°
側(cè)面角 （SA）: 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑（Nom）: 20nm
針尖曲率半徑（Max）: 60nm
針尖縮進(jìn) （TSB）（Nom）: 4µm
針尖縮進(jìn)范圍 （TSB）（RNG）: 0 - 7µm
 
 
 
MPP-31123-10
 
Cont20: 彈性系數(shù)0.9N/m, 共振頻率20kHz, 旋轉(zhuǎn)針尖, 鋁反射涂層
適用于Innova /CP-II SPMs.
包裝數(shù)量：10根/盒；套裝
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 15 - 20µm
正面角 （FA）: 15 ± 2°
背面角 （BA）: 25 ± 2°
側(cè)面角 （SA）: 17.5 ± 2°
針尖曲率半徑 （Nom）: 8nm
針尖曲率半徑 （Max）: 12nm
針尖縮進(jìn) （TSB）（Nom）: 15µm
針尖縮進(jìn)范圍（TSB）（RNG）: 5 - 25µm
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
MSCT
 
氮化硅探針
用于接觸式、輕敲式或力的測(cè)量，高靈敏度，彈性系數(shù)極低；
每個(gè)基片有6個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.01 - 0.50 N/m，有銳化處理，
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 2.5 - 8.0µm
正面角（FA）: 15 ± 2.5°
背面角（BA）: 25 ± 2.5°
側(cè)面角 （SA）: 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑（Nom）: 10nm
針尖曲率半徑（Max）: 40nm
針尖縮進(jìn) （TSB）（Nom）: 4µm
針尖縮進(jìn)范圍 （TSB）（RNG）: 0 - 7µm
 
 
 
 
 
L-10
 
屬于 SNL （Sharp Nitride Lever）探針系列.
L 探針將硅針尖的銳利和氮化硅懸臂的低彈性指數(shù)高靈敏度*結(jié)合，在任何樣品任何媒介中都能得到一種*的高分辨率和力量控制
每個(gè)基片有6個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.01 - 0.50 N/m，有銳化處理
包裝數(shù)量：10根/盒
 
探針參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 2.5 - 8.0µm
正面角 （FA）: 15 ± 2.5°
背面角 （BA）: 25 ± 2.5°
側(cè)面角 （SA）: 22.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑（Nom）: 2nm
針尖曲率半徑（Max）: 12nm
針尖縮進(jìn) （TSB）（Nom）: 4µm
針尖縮進(jìn)范圍 （TSB）（RNG）: 0 - 7µm
 
 
 
 
 
 
NP-10
 
氮化硅探針
用于接觸式、輕敲式和力的測(cè)量
每個(gè)基片有4個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.06 - 0.58 N/m
包裝數(shù)量：10根/盒
 
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度（h）: 2.5 - 8.0µm
正面角 （FA）: 15 ± 2.5°
背面角 （BA）: 25 ± 2.5°
側(cè)面角 （SA）: 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑（Nom）: 20nm
針尖曲率半徑（Max）: 60nm
針尖縮進(jìn) （TSB）（Nom）: 4µm
針尖縮進(jìn)范圍（TSB）（RNG）: 0 - 7µm
 
 
 
 
NPG-10
 
用于接觸式、輕敲式和力的測(cè)量
每個(gè)基片有4個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.06 - 0.58 N/m， Au涂層針尖
包裝數(shù)量：10根/盒
 
針尖參數(shù)
針尖表面的黃金涂層使針尖功能化更容易 （如：使用硫醇化學(xué)）.
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 2.5 - 8.0µm
正面角 （FA）: 15 ± 2.5°
背面角 （BA）: 25 ± 2.5°
側(cè)面角 （SA）: 17.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑（Nom）: 30nm
針尖曲率半徑（Max）: 90nm
針尖縮進(jìn) （TSB）（Nom）: 4µm
針尖縮進(jìn)范圍 （TSB）（RNG）: 0 - 7µm
 
 
 
 
 
 
 
 
每個(gè)基片有2個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.006 - 0.03N/m，Au涂層針尖
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
針尖表面的黃金涂層使針尖功能化更容易 （如：使用硫醇化學(xué)）..
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 5 - 10µm
正面角 （FA）: 0 ± 1°
背面角 （BA）: 45 ±1°
側(cè)面角 （SA）: 45 ±1°
針尖曲率半徑（Nom）: 30nm
針尖曲率半徑（Max）: 40nm
針尖縮進(jìn) （TSB）（Nom）: 0µm
 
 
 
 
 
RFESP
 
硅探針
彈性指數(shù)3N/m, 共振頻率75kHz, 旋轉(zhuǎn)針尖, 無(wú)涂層
包裝數(shù)量：10根/盒
 
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 15 - 20µm
正面角 （FA）: 15 ± 2°
背面角 （BA）: 25 ± 2°
側(cè)面角 （SA）: 17.5 ± 2°
針尖曲率半徑 （Nom）: 8nm
針尖曲率半徑 （Max）: 12nm
針尖縮進(jìn) （TSB）（Nom）: 15µm
針尖縮進(jìn)范圍 （TSB）（RNG）: 5 - 25µm
 
 
 
 
RTESP
 
硅探針
彈性指數(shù)40N/m, 共振頻率300kHz, 旋轉(zhuǎn)針尖, 無(wú)涂層
包裝數(shù)量：10根/盒
 
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 15 - 20µm
正面角 （FA）: 15 ± 2°
背面角 （BA）: 25 ± 2°
側(cè)面角 （SA）: 17.5 ± 2°
針尖曲率半徑（Nom）: 8nm
針尖曲率半徑 （Max）: 12nm
針尖縮進(jìn) （TSB）（Nom）: 15µm
針尖縮進(jìn)范圍（TSB）（RNG）: 5 - 25µm
 
 
 
 
 
SNL-10
 
Bruker's New Sharp Nitride Lever
將硅針尖的銳利和氮化硅懸臂的低彈性指數(shù)高靈敏度*結(jié)合，在任何樣品任何媒介中都能得到一種*的高分辨率和力量控制
每個(gè)基片有4個(gè)懸臂，彈性系數(shù)為0.06 - 0.58N/m，銳化的硅針尖
包裝數(shù)量：10根/盒
 
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 2.5 - 8.0µm
正面角 （FA）: 15 ± 2.5°
背面角 （BA）: 25 ± 2.5°
側(cè)面角（SA）: 22.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑 （Nom）: 2nm
針尖曲率半徑 （Max）: 12nm
針尖縮進(jìn) （TSB）（Nom）: 4µm
針尖縮進(jìn)范圍 （TSB）（RNG）: 0 - 7µm
 
 
 
 
TESP-SS
 
超尖探針，彈性指數(shù)42N/m, 共振頻率320kHz, 針尖曲率半徑2-5nm, 無(wú)涂層
包裝數(shù)量：10根/盒
針尖參數(shù)
幾何：各向異性
針尖高度 （h）: 10 - 15µm
正面角 （FA）: 25 ± 2.5°
背面角 （BA）: 15 ± 2.5°
側(cè)面角 （SA）: 22.5 ± 2.5°
針尖曲率半徑 （Nom）: 2nm
針尖曲率半徑 （Max）: 5nm
針尖縮進(jìn) （TSB）（Nom）: 15µm
針尖縮進(jìn)范圍 （TSB）（RNG）: 5 - 25µm
 
 
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