低頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)低頻介電常數(shù)測(cè)試儀報(bào)價(jià)低頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)低頻介電常數(shù)測(cè)試儀報(bào)價(jià)（20Hz-5MHZ）主機(jī)加測(cè)試夾具 型號(hào):M378981庫號(hào)：M378981 查看hh
一 本設(shè)備適用標(biāo)準(zhǔn)
1 GBT 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法
3 ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法
二 介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測(cè)試主機(jī)：
1 參數(shù)
測(cè)量功能
測(cè)試頻率 20 Hz－5MHz，10mHz分辨率
測(cè)試參數(shù) |Z|, |Y|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ,DCR
基本測(cè)量準(zhǔn)確度 0.05%
等效電路 串聯(lián), 并聯(lián)
數(shù)學(xué)功能 偏差, 百分比偏差
量程方式 自動(dòng), 保持, 手動(dòng)選擇
觸發(fā)方式 內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線
測(cè)量速度（≥1kHz） 快速: 80次/秒, 中速: 30次/秒, 慢速: 3次/秒
平均次數(shù) 1—255
延時(shí)時(shí)間 0—60s, 以1ms步進(jìn)
校準(zhǔn)功能 開路/ 短路/ 負(fù)載
測(cè)試端配置 五端
列表掃描 10點(diǎn)列表掃描功能
顯示方式 直讀，Δ，Δ%，V/I（被測(cè)電壓/電流監(jiān)視）
顯示器 800×480 RGB7英寸16: 9 TFT LCD顯示器
測(cè)試信號(hào)
輸出阻抗 30 Ω, 100 Ω, 50Ω, 10 /CC可選擇
測(cè)試信號(hào)電平 正常： 5mV-2V, 1mV步進(jìn)
恒電平：10mV-1V, 1mV步進(jìn)
偏置源 內(nèi)部 0V, 1.5V, 2V
選配 UC6802A：±10V（±100mA）直流偏置電流
UC6802B：0-1A直流偏置電流
顯圍
|Z|, R, X 0.01mΩ —99.9999 MΩ
DCR 0.01 mΩ —99.9999 MΩ
|Y|, G, B 0.00001µS —99.9999 S
C 0.00001 pF —9.9999 F
L 0.00001 µH —9999.99 H
D 0.00001 —9.9999
Q 0.00001 —9999.9
θ(DEG) -179.999o —179.999 o
θ(RAD) -3.14159 —3.14159
其他
比較器功能 十檔：（九檔合格，一檔不合格），另有一個(gè)附屬檔AUX
存儲(chǔ)器 10組內(nèi)部儀器設(shè)定供存儲(chǔ)/調(diào)用
接口 標(biāo)配RS232C、HANDLER、USB HOST，耳機(jī)接口
三 （數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：
固體：材料測(cè)量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm （二選一）
液體：測(cè)量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）
四 低頻介電常數(shù)及介質(zhì)蒜損耗測(cè)試系統(tǒng)主要測(cè)試材料:
1 絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等
