日本BETHEL熱分析儀器熱傳導(dǎo)檢查設(shè)備TSI2可以通過熱將空隙、裂紋等產(chǎn)品或材料的缺隙可視化。
日本BETHEL熱分析儀器熱傳導(dǎo)檢查設(shè)備TSI2優(yōu)勢：
1. 具備激光加熱功能；
2. 宏觀攝影光學(xué)系（分辨率約20μｍ）；
3. 高性能紅外照相機(jī)（7.5μm～13.5μm）；
4. 獨(dú)立的減噪技術(shù)；
5. 操作簡單，打開蓋子將樣品放置到位置就可以進(jìn)行測量；
熱傳導(dǎo)檢查設(shè)備TSI2可以對樹脂、玻璃、陶瓷、金屬等的缺陷、不均勻性、紅外線放射亮度、簡易溫度、熱特性等進(jìn)行測量分析；
主要規(guī)格 | ||
TSI-2 | ||
基本性能 | 測量對象 | 樣品的缺陷、不均勻性、紅外線放射亮度、簡易溫度、熱特性 |
輸出數(shù)據(jù) | 頻率、距離、振幅、位相、亮度、圖像數(shù)據(jù) | |
解析模式 | 點(diǎn)?范圍解析、位相解析 | |
其它配件 | 溫度調(diào)制加熱器、控制解析軟件、PC | |
測量環(huán)境 | 溫度 | RT∼250[℃] |
測量頻率 | 0.1∼10[Hz] | |
紅外照相機(jī) | 元件數(shù)量 | 336×256 |
元件的種類 | VOx Microbolometer | |
像素 | 17[μm] | |
觀察波長范圍 | 7.5∼13.5[μm] | |
幀延遲 | 30[Hz] | |
分辨率 | About 30[μm] | |
半導(dǎo)體激光 （連續(xù)振蕩） | 波長 | 808[nm] |
大輸出功率 | 5[W] | |
正弦波調(diào)制 | 0.1∼30[Hz] | |
平臺可動(dòng)范圍 | 水平（XY軸） 方向 | ±15[mm] |
垂直（Z軸） 方向 | +50[mm] | |
電源 | AC100-240[V], 10-5[A], 50/60[Hz] | |
使用環(huán)境 | 溫度 | 20～30(℃) |
濕度 | 20～80(%) | |
保管環(huán)境 | 溫度 | 0～50(℃) |
濕度 | 20～80(%) | |
設(shè)備本體 | 外形尺寸 | W552 × D602 × H657[mm] |
重量 | 76.5[kg] | |
激光安全標(biāo)準(zhǔn) | CLASS1, IEC/EN 60825-1:2007 | |
