UV-313/340型紫外輻照計(jì)
UV-313/340型紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
技術(shù)參數(shù):
UV-313/340型紫外輻照計(jì)產(chǎn)品特點(diǎn):
* 光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正* 數(shù)字液晶顯示,帶背光* 手動(dòng)/自動(dòng)量程切換* 數(shù)字輸出接口(USB冗余供電)* 低電量提醒* 自動(dòng)關(guān)機(jī)* 有數(shù)字保持* 輕觸按鍵操作,蜂鳴提示UV-313/340型紫外輻照計(jì)主要技術(shù)指標(biāo):
探頭(二選其一): | UV-313nm 探頭 | UV-340nm 探頭 | |
波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng): | λ:(290~340)nm;λP=313nm | λ:(315~370)nm;λP=340nm | |
紫外帶外區(qū)雜光: | UV313:小于0.05% | UV340:小于0.05% | |
輻照度測(cè)量范圍: | (0.1~199.9×103) μW/cm2 | ||
相對(duì)示值誤差: | ±10%(相對(duì)與NIM標(biāo)準(zhǔn)) | ||
角度響應(yīng)特性: | ±5%(α ≤10°) | ||
線性誤差: | ±1% | ||
短期不穩(wěn)定性: | ±1%(開機(jī)30min后) | ||
響應(yīng)時(shí)間: | 1秒 | ||
使用環(huán)境: | 溫度(0~40)℃,濕度<85%RH | ||
尺寸和重量: | 160mm×78mm×43mm;0.2kg | ||
電源: | 常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只 亦可使用數(shù)據(jù)線連接USB接口、5V電源適配器供電 整機(jī)功耗 <0.1VA |