X熒光光譜儀屬于*的分析檢測(cè)儀器,隨著半導(dǎo)體微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展,傳統(tǒng)的光學(xué)、熱學(xué)、電化學(xué)、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學(xué)精密機(jī)械電子學(xué)結(jié)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)室內(nèi)人工操作應(yīng)用模式,轉(zhuǎn)化成光、機(jī)、電、算(計(jì)算機(jī))一體化、自動(dòng)化的結(jié)構(gòu),并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺(tái)式X熒光光譜儀技術(shù)為基礎(chǔ),結(jié)合國(guó)外相關(guān)新的技術(shù)發(fā)展成果,研制出具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的EDX 3600K型X熒光光譜儀。
EDX 3600K X熒光光譜儀的亮點(diǎn)在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測(cè)器和自旋式的樣品腔,產(chǎn)品通過了江蘇省計(jì)量科學(xué)研究院的檢測(cè),并通過中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì)分析儀器分會(huì)組織的科技成果鑒定,技術(shù)達(dá)到水平。
應(yīng)用領(lǐng)域
專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款設(shè)備,主要應(yīng)用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領(lǐng)域。
同時(shí)在地質(zhì)、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測(cè)、有色金屬、食品、農(nóng)業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應(yīng)用。
性能優(yōu)勢(shì)
1.超低能量分辨率,輕元素檢測(cè)效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測(cè)器,探測(cè)器分辨率達(dá)到139eV,各項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。SDD探測(cè)器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有良好的分析精度。
2. 測(cè)試精度更高,檢出限更低
①專業(yè)化的樣品腔設(shè)計(jì),帶可調(diào)速的自旋樣品腔,能有效的測(cè)定輕元素和減少樣品均一性的影響,提高樣品的測(cè)試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設(shè)計(jì),保證測(cè)試時(shí)達(dá)到10Pa以下,使設(shè)備的測(cè)試范圍可從F元素起測(cè)試,大大地提高測(cè)試范圍、輕元素檢出限和精度。
3. 分析速度更快,從第1秒即可得到定性定量結(jié)果
采用自主研發(fā)的數(shù)字多道技術(shù),其線性計(jì)數(shù)率可達(dá)100kcps,可以更加快速的分析,從第1秒就可以得出定性定量結(jié)果,
設(shè)計(jì)成高計(jì)數(shù)率,大大提高了設(shè)備的穩(wěn)定性。
4. 一鍵式智能化操作
專業(yè)軟件,*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件,具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、一鍵智能化操作,使操作簡(jiǎn)易,對(duì)操作人員限制小的特點(diǎn)。
5. 強(qiáng)大的自動(dòng)化功能
①自動(dòng)化程度高,具有自動(dòng)開蓋、自動(dòng)切換準(zhǔn)直器與濾光片等功能。
②采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置,保證了儀器工作的*性:利用解譜技術(shù)使譜峰分解,采用多參數(shù)的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。
6. 強(qiáng)度校正法
具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式的自由添加,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
7. 完善的光路系統(tǒng)
自主研發(fā)的光路系統(tǒng),光程更短,光路損失更少,激發(fā)效果更佳。
8. 三重安全防護(hù)功能
三重安全防護(hù)功能,自動(dòng)感應(yīng),沒有樣品時(shí)儀器不工作,無射線泄漏;加厚防護(hù)測(cè)試壁;配送測(cè)試防護(hù)安全罩。
9. 安全警示系統(tǒng)
警告指示系統(tǒng),通電時(shí)綠色指示燈亮,測(cè)試時(shí)黃色輻射指示燈閃爍,防止誤操作。
X熒光光譜儀EDX3600K儀器配置
鈹窗電制冷SDD探測(cè)器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增強(qiáng)系統(tǒng)
可自動(dòng)開啟的測(cè)試蓋
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
真空腔體
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
*的數(shù)字多道技術(shù)
多變量非線性回歸程序
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
X熒光光譜儀EDX3600K技術(shù)參數(shù)
型號(hào):EDX3600K
X射線源:50KV、1mA
樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X熒光分析方法
測(cè)量元素范圍:原子序數(shù)為9~92[氟(F)到鈾(U)]之間的元素均可測(cè)量
檢測(cè)元素:同時(shí)分析元素達(dá)三十多種,可根據(jù)客戶需要增加元素
含量范圍:ppm~99.99%
檢測(cè)時(shí)間:10秒以上
檢測(cè)對(duì)象:標(biāo)準(zhǔn)粉未壓片及可以放入標(biāo)準(zhǔn)樣品杯的固體、液體及粉末
探測(cè)器及分辨率:超大超薄的SDD探測(cè)器,分辨率 為144±5eV,可選配極速探測(cè)器至125eV
激發(fā)源:銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇
測(cè)井環(huán)境:超真空系統(tǒng),10秒可抽到10Pa以下
濾光片:6種濾光片組合自動(dòng)切換
自旋裝置:可調(diào)速的自旋裝置
檢出限:對(duì)樣品中的大多數(shù)元素來說,檢出限達(dá)5~500ppm
真空系統(tǒng):超真空系統(tǒng),10秒可到10Pa
數(shù)據(jù)傳輸:數(shù)字多道技術(shù),快速分析,高計(jì)數(shù)率
測(cè)試臺(tái):360°電動(dòng)旋轉(zhuǎn)式
保護(hù)系統(tǒng):樣品腔為電動(dòng)控制,上蓋打開時(shí)測(cè)試已完成
樣品放置:*的樣品杯設(shè)計(jì),自帶壓環(huán),可防止樣品晃動(dòng)
數(shù)字多道技術(shù):計(jì)數(shù)率>50kcps,有效計(jì)數(shù)率高至500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度:15℃~30℃
軟件優(yōu)勢(shì)
采用公司新的能譜EDXRF軟件,*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件,具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、一鍵智能化操作,操作簡(jiǎn)易,對(duì)操作人員限制小的特點(diǎn)。
具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
全新的軟件界面和內(nèi)核,采用FP和EC軟件組合的方法,應(yīng)用面更加廣泛。