概述:
TSM超細(xì)顆粒粒度分析儀是一種基于消光法原理的新型顆粒粒度分析儀器,用于測(cè)量超細(xì)顆粒的粒度分布。本儀器由主機(jī),計(jì)算機(jī)和打印機(jī),儀器操作軟件等組成。儀器具有操作簡(jiǎn)單,測(cè)量時(shí)間短,操作軟件良好的人機(jī)對(duì)話界面等優(yōu)點(diǎn)??蓮V泛用于電子,光學(xué),化工,醫(yī)藥等行業(yè)測(cè)量超細(xì)固體顆粒、懸乳劑、懸浮液等的顆粒和液滴的平均尺寸和尺寸分布。以表格形式和直方圖形式給出被測(cè)顆粒的粒度分布和累積分布的測(cè)量結(jié)果,以及D32, Dv50等多種平均粒徑和比表面積。
主機(jī)內(nèi)包括光源,光學(xué)系統(tǒng),測(cè)量樣品池,光電信號(hào)轉(zhuǎn)換及放大系統(tǒng),A/D數(shù)據(jù)采集卡等。主機(jī)輸出信號(hào)通過USB電纜與計(jì)算機(jī)的USB口相連接,計(jì)算機(jī)對(duì)主機(jī)測(cè)量進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)處理,并打印輸出結(jié)果。
技術(shù)特點(diǎn):
1、大功率白色光源
2、采用國(guó)產(chǎn)光譜接收器
3、集多年研究之成果,*消光理論的應(yīng)用
4、*反演算法,保證顆粒測(cè)量的準(zhǔn)確
5、USB接口,儀器與計(jì)算機(jī)一體設(shè)備,10.8寸觸摸屏,直接顯示數(shù)據(jù)與粒徑分布,可連接U盤、打印機(jī)、鼠標(biāo)等。
6、微量固定樣品池,超高感應(yīng)靈敏度,僅需少量樣品
7、軟件個(gè)性化,提供測(cè)量向?qū)У缺姸喙δ?,方便用戶操作?/span>
8、測(cè)量結(jié)果輸出數(shù)據(jù)豐富,保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中,能用任意參數(shù),如操作者姓名,樣品名,日期,時(shí)間等進(jìn)行調(diào)用分析,與其他軟件實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)共享;
9、儀器造型美觀,體積小重量輕;
10、測(cè)量精度高,重復(fù)性好,測(cè)量時(shí)間短;
11、軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶選擇,滿足用戶查找被測(cè)顆粒折射率要求;
12、考慮到測(cè)試結(jié)果的保密要求,只有操作者才能進(jìn)入相應(yīng)數(shù)據(jù)庫(kù)讀取數(shù)據(jù)和處理;
技術(shù)參數(shù):
型號(hào) | TSM-A1 | |
光源功率 | 20W 12V 鹵素?zé)?/span> | |
接收器 | 國(guó)產(chǎn)光學(xué)光譜接收器 | |
粒徑測(cè)量范圍 | 0.05μm-10.0μm | |
重復(fù)測(cè)量誤差 | < 2% | |
測(cè)量誤差 | <3% (用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)顆粒檢驗(yàn)); | |
數(shù)據(jù)輸出 | 體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表;多種統(tǒng)計(jì)平均直徑;操作者姓名、單位、樣品名;選用折射率,測(cè)量時(shí)間等相關(guān)信息。 | |
用戶登錄功能 | 可以設(shè)置多位用戶與密碼,由不同的人員操作 | |
審計(jì)追蹤功能 | 監(jiān)控每個(gè)用戶對(duì)設(shè)備的所有操作 | |
通訊接口 | USB接口 | |
樣品池 | 固定樣品池4.5mL | |
測(cè)量分析時(shí)間 | 正常條件下小于1分鐘(從開始測(cè)量到顯示分析結(jié)果)。 | |
工作環(huán)境溫度 | 5-30 ℃; | |
電源 | 180-240V,50 Hz; | |
外形尺寸 | 320 mm×280 mm×120 mm; | |
重量 | 8kg | |
顯示方式 | 1. 1、內(nèi)嵌10.8寸超大工業(yè)級(jí)別的電腦,無需另配電腦,一體化設(shè)備 2. 2、預(yù)安裝軟件,無電腦適應(yīng)性問題,減少由于更換使用電腦,安裝驅(qū)動(dòng)錯(cuò)誤導(dǎo)致的連接等問題 3. 3、配置WIN 10系統(tǒng),擁有32GB容量、2GB系統(tǒng)內(nèi)存,無需使用U盤轉(zhuǎn)移數(shù)據(jù),儀器內(nèi)部即可存儲(chǔ),操作方式觸摸屏與鼠鍵均可使用 |
工作條件:
1.室內(nèi)溫度:15℃-35℃
2.相對(duì)溫度:不大于85%(無冷凝)
3.建議用交流穩(wěn)壓電源1KV,無強(qiáng)磁場(chǎng)干擾。
4.由于在微量級(jí)的范圍內(nèi)的測(cè)量,儀器應(yīng)放在堅(jiān)固可靠、無振動(dòng)的工作臺(tái)上,并且在少塵條件下進(jìn)行測(cè)量。
5.儀器不應(yīng)放在太陽直射、風(fēng)大或溫度變化大的場(chǎng)所。
6.設(shè)備必須接地,保證安全和高精度。
7.室內(nèi)應(yīng)清潔、防塵、無腐蝕性氣體。
工作原理:
消光法(Extinction)是光散射顆粒測(cè)量技術(shù)中的一種,又稱濁度法(Turbidimetry)。
消光法的原理簡(jiǎn)單,測(cè)量方便,對(duì)儀器設(shè)備的要求較低,測(cè)量范圍相對(duì)較寬,下限為數(shù)十個(gè)納米,上限約10mm左右,測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確,重復(fù)性好,測(cè)量速度快。因此,該方法不僅在膠體化學(xué),高分子化學(xué)以及分析化學(xué)等實(shí)驗(yàn)室分析中得到了廣泛應(yīng)用,還在在線測(cè)量中得到越來越多的應(yīng)用,如對(duì)高分子聚合過程的測(cè)量和監(jiān)控,內(nèi)燃機(jī)排氣中固體微粒粒徑的測(cè)量,大型火力發(fā)電廠和原子能電廠中蒸汽濕度和水滴直徑的測(cè)量,煙塵排放濃度的監(jiān)控等。
消光法的測(cè)量原理如圖1所示。如果一束直徑遠(yuǎn)大于被測(cè)顆粒粒徑、強(qiáng)度為I0、波長(zhǎng)為λ的平行單色光入射到一含有被測(cè)顆粒群的介質(zhì)時(shí),由于顆粒對(duì)光的散射和吸收作用,光的強(qiáng)度將受到衰減