■ 產(chǎn)品說(shuō)明
穩(wěn)態(tài)熱反射測(cè)試法將基于雷射熱反射的技術(shù)(TDTR、FDTR)與穩(wěn)態(tài)熱傳導(dǎo)技術(shù)結(jié)合再一起,進(jìn)行快速、小尺度的穩(wěn)態(tài)量測(cè)。
寬廣的熱傳導(dǎo)系數(shù)測(cè)試范圍從0.05W/mK ~ 2500W/mK,SSTR-F甚至能測(cè)試小至幾百微米的樣品。透過(guò)光纖組件和雷射的系統(tǒng)提供便利的使用,可選配的FDTR測(cè)量模塊量測(cè)徑向、橫向的熱傳導(dǎo),以及材料邊界熱阻抗。搭配自動(dòng)平臺(tái)可以做到100mm的熱傳導(dǎo)分布圖。
穩(wěn)態(tài)熱反射測(cè)試法將基于雷射熱反射的技術(shù)(TDTR、FDTR)與穩(wěn)態(tài)熱傳導(dǎo)技術(shù)結(jié)合再一起,進(jìn)行快速、小尺度的穩(wěn)態(tài)量測(cè)。
寬廣的熱傳導(dǎo)系數(shù)測(cè)試范圍從0.05W/mK ~ 2500W/mK,SSTR-F甚至能測(cè)試小至幾百微米的樣品。透過(guò)光纖組件和雷射的系統(tǒng)提供便利的使用,可選配的FDTR測(cè)量模塊量測(cè)徑向、橫向的熱傳導(dǎo),以及材料邊界熱阻抗。搭配自動(dòng)平臺(tái)可以做到100mm的熱傳導(dǎo)分布圖。

SSTR-F是由弗吉尼亞大學(xué)ExSiTE 實(shí)驗(yàn)室Professor Patrick Hopkins 開(kāi)發(fā)。
For paper reference: A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity - Review of Scientific Instruments 90, 024905 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5056182
For paper reference: A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity - Review of Scientific Instruments 90, 024905 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5056182
適用材料 | 固體、液體 |
---|---|
熱傳導(dǎo)范圍 | 0.05 to 2500W/mk |
熱點(diǎn)尺寸 | >100um |
溫度范圍 | 80K to 600K |
精確度 | 5% |
再現(xiàn)性 | 2% |
FDTR | |
熱傳導(dǎo)范圍 | 0.05 to 2500W/mk |
量測(cè)方向 | 厚度方向、平面方向 |
薄膜厚度 | >5nm |