環(huán)保在線>產(chǎn)品庫>機床/防腐/制冷/空分/超聲波>空分設備>空壓機>>紫外/可見/近紅外分光光度計 UH4150 空壓機

紫外/可見/近紅外分光光度計 UH4150 空壓機

參考價	面議

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱河南豫凈科技發(fā)展有限公司
品牌
型號
所在地
廠商性質其他
更新時間2023/10/26 9:01:25
訪問次數(shù)347

產(chǎn)品標簽:

在線詢價收藏產(chǎn)品點擊查看電話

索取相關資料

公司介紹主營產(chǎn)品

河南豫凈科技發(fā)展有限公司是一家致力于化學與材料、生物與醫(yī)藥實驗室平臺建設與推廣的高科技企業(yè)。公司作為若干實驗室設備制造商及實驗室標準化設計和配套工程的緊密合作伙伴，旨在將現(xiàn)代化實驗室儀器設備和符合標準的實驗室設計理念引入日新月異發(fā)展的中國實驗室。公司擁有完善的經(jīng)營平臺，為國家、河南省授信的AA*企業(yè)，*企業(yè)，擁有自主的進出口經(jīng)營權。2014年成功入住國家大學科技園，作為專業(yè)的實驗室儀器供應商，豫凈公司與50多個優(yōu)秀實驗室設備制造商有著極為密切的業(yè)務及商務合作，多年來與國內(nèi)外實驗室設備制造商成功合作的經(jīng)驗，也為我們將國內(nèi)外的儀器和發(fā)展理念架起與用戶溝通的信息平臺。依靠雄厚的技術實力可向用戶提供從實驗室設計到工程實施、優(yōu)化的設備配置及售后服務的完整解決方案。公司秉承“創(chuàng)新、專業(yè)、合作、共贏”的經(jīng)營理念，嚴格執(zhí)行高標準、嚴要求的“交鑰匙工程”準則。經(jīng)過多年的積淀與努力，打造了一支高效的團隊，既引進多名中高級職稱的科研人才，也培養(yǎng)一批具有活力的青年技術人才和市場人才。面對日新月異的高科技，我們充滿信心，我們堅信在廣大同仁的共同努力下，豫凈公司一定成為您工作中的合作伙伴，竭誠歡迎與各界人事的廣泛合作。主要代理品牌：德國布魯克，美國麥克，美國金西盟，美國熱電，美國安捷倫，日本理學，日本SYSMEX（希森美康）等。

展開顯示更多內(nèi)容

連續(xù)光源原子吸收光譜儀

產(chǎn)品簡介在線詢價

切換檢測器波長時會產(chǎn)生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現(xiàn)高精度的測定檢測器切換時附近波長測定數(shù)據(jù)例（金納米棒的吸收光譜）安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內(nèi)進行測定

紫外/可見/近紅外分光光度計 UH4150 空壓機產(chǎn)品信息

切換檢測器波長時會產(chǎn)生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現(xiàn)高精度的測定

檢測器切換時附近波長測定數(shù)據(jù)例
（金納米棒的吸收光譜）

安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內(nèi)進行測定。由于使用日立專業(yè)的積分球結構技術和信號處理技術等，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到最小。

日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實現(xiàn)低雜散光和低偏振

UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學系統(tǒng)，秉承U-4100光學系統(tǒng)的特點。棱鏡-光柵（P-G）系統(tǒng)與常見的光柵-光柵（G-G）系統(tǒng)相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現(xiàn)低噪音測定。

平行光束可實現(xiàn)反射光和散射光的精確測定

鏡面反射率測定示例

入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束，由于入射角根據(jù)透鏡的焦距等因素會不同，因此，像導電多層膜和棱鏡等光學薄膜的模擬設計值將與實際測定值不同。但對于平行光束，相對于樣品入射角始終相同，實現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測定。此外，平行光束可用于擴散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定。

可提供適合不同測定目的的多種檢測器

檢測器產(chǎn)品線

可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球。*2*3

采用全新人體工學設計

改進樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學的設計。

兼容多種U-4100附件

通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。

比U-4100型更高的樣品通量

在秉承U-4100型光學系統(tǒng)高性能的同時，UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數(shù)據(jù)間隔下測定時，掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定，顯著縮短測定時間。*5UH4150在約2分鐘內(nèi)可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內(nèi)測定的樣品，如太陽能反射材料，尤其有效。

掃描速度為600 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜