光學(xué)行業(yè)基準(zhǔn)型儀器；
標(biāo)準(zhǔn)實驗室標(biāo)樣鑒定、光學(xué)、鍍膜、半導(dǎo)體、光伏、太陽能等行業(yè)。
自帶光學(xué)平臺，防震系統(tǒng)，儀器在實驗室之間可以移動，反映光路穩(wěn)定，不需要重新校準(zhǔn)
| 切換檢測器波長時會產(chǎn)生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現(xiàn)高精度的測定。 | ||
| 安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內(nèi)進(jìn)行測定。由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號處理技術(shù)等，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到最小。 | ||
| 日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實現(xiàn)低雜散光和低偏振。 |
| UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學(xué)系統(tǒng)，秉承U-4100光學(xué)系統(tǒng)的特點。 棱鏡-光柵（P-G）系統(tǒng)與常見的光柵-光柵（G-G）系統(tǒng)相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現(xiàn)低噪音測定。 |
| 平行光束可實現(xiàn)反射光和散射光的準(zhǔn)確測定。 | ||
| 入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束，由于入射角根據(jù)透鏡的焦距等因素會不同，因此，像導(dǎo)電多層膜和棱鏡等光學(xué)薄膜的模擬設(shè)計值將與實際測定值不同。 但對于平行光束，相對于樣品入射角始終相同，實現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測定。此外，平行光束可用于擴(kuò)散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定。 | ||
| 儀器結(jié)構(gòu)： | 雙光束 | 光譜帶寬： | 0.1nm |
| 波長準(zhǔn)確度： | ±0.2nm | 雜散光(S.L.)： | ±0.00008%T |
| 波長范圍： | 175nm~3300nm | 自動程度： | 自動波長 |
| 波長范圍： | 紫外可見近紅外 | 接收器類： | 光電二極管陣列 |
