產(chǎn)品介紹：
CS353便攜式阻抗測(cè)試儀是在華中科技大學(xué)腐蝕與防護(hù)研究所多年研究成果基礎(chǔ)上研制的，具有易于攜帶、操作簡(jiǎn)便、測(cè)量迅速、顯示結(jié)果直觀(guān)等特點(diǎn)。供電采用直流供電，內(nèi)置充電 電池，用于現(xiàn)場(chǎng)無(wú)電源情況下使用，滿(mǎn)電狀態(tài)下可以連續(xù)測(cè)量 3-4小時(shí)。
CS353便攜式阻抗測(cè)試儀是一種以小振幅的正弦波電位為 擾動(dòng)信號(hào)的電測(cè)量方法。如果對(duì)系統(tǒng)施加一個(gè)正弦波電信號(hào)作為擾動(dòng)信號(hào)，則相應(yīng)地系統(tǒng)產(chǎn)生一個(gè)與擾動(dòng)信號(hào)相同頻率的響應(yīng)信號(hào)。由不同的頻率的響應(yīng)信號(hào)與擾動(dòng)信號(hào)之間的比值，可以得到不同頻率下阻抗的模值與相位角，并且可以進(jìn)一步計(jì)算 得到阻抗的實(shí)部與虛部。通常研究者通過(guò)研究實(shí)部和虛部構(gòu)成的復(fù)阻抗面圖，以及impedance～f圖或Phase-f圖來(lái)獲得涂層下金屬或鋼筋混凝土內(nèi)的界面信息和腐蝕狀態(tài)。
CS353包括前端的測(cè)量部分、數(shù)據(jù)存貯部分、數(shù)據(jù)輸出部分。儀器主機(jī)由極化測(cè)量控制電路、單片機(jī)系統(tǒng)、高精度模/數(shù)，數(shù)/模轉(zhuǎn)換電路、通訊接口和大屏幕工控平板電腦組成。整個(gè)測(cè)量過(guò)程由單片機(jī)控制，測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)運(yùn)算并存儲(chǔ)。
應(yīng)用領(lǐng)域
?、倥浜蠈?zhuān)用阻抗測(cè)試探頭，在金屬腐蝕體系，可用于涂層下金屬的腐蝕狀態(tài)和混凝土內(nèi)鋼筋銹蝕情況的評(píng)估等等;
?、谧鳛楸銛y式電化學(xué)工作站用于所有常規(guī)電化學(xué)測(cè)量;
③可用于表面吸附、金屬電沉積及化學(xué)電源等方面的研究。
售后服務(wù)
1) 質(zhì)保期3年。
2) 提供終生維修服務(wù)，免維修費(fèi)。質(zhì)保期外酌收材料成本費(fèi)。
3) 免費(fèi)提供同型號(hào)軟件升級(jí)。
4) 儀器在運(yùn)輸過(guò)程中造成的損壞由供貨方承擔(dān)
技術(shù)參數(shù)：
主要技術(shù)參數(shù)
輸入阻抗：1×1012Ω | Ecorr測(cè)量范圍：±10V |
極化電位范圍：+/-10V | 測(cè)量精度：±1% |
電位分辨率:10μV | 電源：DC12V |
頻率范圍：100kHz～1mHz | 正弦波幅值：0～2.5V |
電流量程：2nA~200mA | 分辨率：100pA |
電流測(cè)量范圍：±200mA | 滿(mǎn)電工作時(shí)間：3~4小時(shí) |
工作溫度：-10°C~50°C；相對(duì)濕度：≤80%RH，空氣中無(wú)強(qiáng)烈腐蝕氣體 | 重量: 2Kg |
配置
1)儀器主機(jī)1臺(tái)
2)數(shù)據(jù)測(cè)量處理軟件1套
3)測(cè)量探頭 1支
4) 模擬電解池1個(gè)
5) USB電纜線(xiàn)、探頭電纜線(xiàn)各1根
6) 電池充電器1個(gè)
功能方法：
穩(wěn)態(tài)極化
開(kāi)路電位測(cè)量(OCP)、恒電位極化(i-t曲線(xiàn))、恒電流極化、動(dòng)電位掃描(TAFEL曲線(xiàn))、動(dòng)電流掃描(DGP)
暫態(tài)極化
任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、恒電位階躍(VSTEP)、恒電流階躍(ISTEP)
計(jì)時(shí)分析
計(jì)時(shí)電位法(CP)、計(jì)時(shí)電流法(CA)、計(jì)時(shí)電量法(CC)
伏安分析
線(xiàn)性?huà)呙璺卜?LSV)、線(xiàn)性循環(huán)伏安法(CV)、階梯循環(huán)伏安法(SCV)、方波伏安法(SWV)、差分脈沖伏安法(DPV)、常規(guī)脈沖伏安法(NPV)、常規(guī)差分脈沖伏安法(DNPV)、交流伏安法(ACV)、二次諧波交流伏安(SHACV)
溶出伏安
恒電位溶出伏安、線(xiàn)性溶出伏安、階梯溶出伏安、方波溶出伏安
交流阻抗
電化學(xué)阻抗(EIS)～頻率掃描、電化學(xué)阻抗(EIS)～時(shí)間掃描、電化學(xué)阻抗(EIS)～電位掃描(Mott-Schottky曲線(xiàn))
腐蝕測(cè)量
循環(huán)極化曲線(xiàn)(CPP)、線(xiàn)性極化曲線(xiàn)(LPR)、動(dòng)電位再活化法(EPR)、電化學(xué)噪聲(EN)、電偶腐蝕測(cè)量(ZRA)、氫擴(kuò)散測(cè)試 (HDT，氫擴(kuò)散測(cè)試中主動(dòng)式充氫需要另行配置CS1002恒電位/恒電流儀使用)
電池測(cè)試
電池充放電測(cè)試、恒電流充放電
