產(chǎn)品名稱：介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定儀廠家
產(chǎn)品型號(hào)：LJD-B、LJD-C、QS-37
符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409、GB/T5594
產(chǎn)品用途：固體、液體絕緣材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試
適用材料：橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等
測(cè)試范圍：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ
主要配置：主機(jī)Q表、夾具、電感組成
測(cè)試項(xiàng)目：介電常數(shù)、介質(zhì)損耗、介質(zhì)損耗因數(shù)、介質(zhì)損耗角正切值
使用人群：科研所、教學(xué)、質(zhì)量、單位等
付款方式：全款發(fā)貨
產(chǎn)品品牌：縱橫金鼎儀器
產(chǎn)品貨期：1-3個(gè)工作日
產(chǎn)品類別：電性能檢測(cè)儀器
ASTM D150-11
實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和
電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法1
本標(biāo)準(zhǔn)是以固定代號(hào)D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號(hào)；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號(hào)；圓括號(hào)中數(shù)字為上一次重新確認(rèn)的年號(hào)。上標(biāo)符號(hào)（ε）表示對(duì)上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定儀廠家
本標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)批準(zhǔn)用于所有機(jī)構(gòu)。
1.介電常數(shù)測(cè)試儀范圍
1.1 本試驗(yàn)方法包含當(dāng)所用標(biāo)準(zhǔn)為集成阻抗時(shí)，實(shí)心電絕緣材料樣本的相對(duì)電容率，耗散因子，損耗指數(shù)，功率因子，相位角和損耗角的測(cè)定。列出的頻率范圍從小于1Hz到幾百兆赫茲。
注1：在普遍的用法，“相對(duì)”一詞經(jīng)常是指下降值。
1.2 這些試驗(yàn)方法提供了各種電極，裝置和測(cè)量技術(shù)的通用信息。讀者如對(duì)某一特定材料相關(guān)的議題感興趣的話，必須查閱ASTM標(biāo)準(zhǔn)或直接適用于被測(cè)試材料的其它文件。2,3
1.3 本標(biāo)準(zhǔn)并沒有*列舉所有的安全聲明，如果有必要，根據(jù)實(shí)際使用情況進(jìn)行斟酌。使用本規(guī)范前，使用者有責(zé)任制定符合安全和健康要求的條例和規(guī)范，并明確該規(guī)范的使用范圍。特殊危險(xiǎn)說明見7.2.6.1和10.2.1。
1 本規(guī)范歸屬于電學(xué)和電子絕緣材料ASTM D09委員會(huì)管轄，并由電學(xué)試驗(yàn)D09.12附屬委員分會(huì)直接管理。
當(dāng)前版本核準(zhǔn)于2011年8月1日。2011年8月發(fā)行。原版本在1922年批準(zhǔn)。前一較新版本于2004年批準(zhǔn)，即為 D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。
2 R. Bartnikas, 第2章, “交流電損耗和電容率測(cè)量,” 工程電介質(zhì), Vol. IIB, 實(shí)心絕緣材料的電學(xué)性能, 測(cè)量技術(shù), R. Bartnikas, Editor, STP 926,ASTM, Philadelphia, 1987.
3 R. Bartnikas, 第1章, “固體電介質(zhì)損耗,” 工程電介質(zhì),Vol IIA, 實(shí)心絕緣材料的電學(xué)性能: 分子結(jié)構(gòu)和電學(xué)行為, R. Bartnikas and R. M. Eichorn, Editors, STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983.
2.介電常數(shù)測(cè)試儀引用文件
2.1 ASTM標(biāo)準(zhǔn)：4
D374 固體電絕緣材料厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
D618 試驗(yàn)用塑料調(diào)節(jié)規(guī)程
D1082 云母耗散因子和電容率（介電常數(shù)）試驗(yàn)方法
D1531 用液體位移法測(cè)定相對(duì)電容率（介電常數(shù)）與耗散因子的試驗(yàn)方法
D1711 電絕緣相關(guān)術(shù)語
D5032 用飽和甘油溶液方式維持恒定相對(duì)濕度的規(guī)程
E104 用水溶液保持相對(duì)恒定濕度的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
E197 室溫之上和之下試驗(yàn)用罩殼和服役元件規(guī)程（1981年取消）5
3.介電常數(shù)測(cè)試儀術(shù)語
3.1 定義：
3.1.1 這些試驗(yàn)方法所用術(shù)語定義以及電絕緣材料相關(guān)術(shù)語定義見術(shù)語標(biāo)準(zhǔn)D1711。
3.2 本標(biāo)準(zhǔn)術(shù)語定義：
3.2.1 電容，C，名詞——當(dāng)導(dǎo)體之間存在電勢(shì)差時(shí)，導(dǎo)體和電介質(zhì)系統(tǒng)允許儲(chǔ)存電分離電荷的性能。
3.2.1.1 討論——電容是指電流電量 q與電位差V之間的比值。電容值總是正值。當(dāng)電量采用庫倫為單位，電位采用伏特為單位時(shí)，電容單位為法拉，即：
C=q/V ?。?）
3.2.2 耗散因子（D），（損耗角正切），（tanδ），名詞——是指損耗指數(shù)（K''）與相對(duì)電容率（K'）之間的比值，它還等于其損耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（見圖1和圖2）。
D=K''/K' (2)
4 相關(guān)ASTM標(biāo)準(zhǔn)，可瀏覽ASTM網(wǎng)站，或與ASTM客服service聯(lián)系。ASTM標(biāo)準(zhǔn)手冊(cè)卷次信息，可參見ASTM網(wǎng)站標(biāo)準(zhǔn)文件匯總。
5 該歷史標(biāo)準(zhǔn)的較后批準(zhǔn)版本參考網(wǎng)站
3.2.2.1 討論——a：
D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp (3)
式中：
G=等效交流電導(dǎo)，
Xp=并聯(lián)電抗，
Rp=等效交流并聯(lián)電阻，
Cp=并聯(lián)電容，
ω=2πf（假設(shè)為正弦波形狀）
耗散因子的倒數(shù)為品質(zhì)因子Q，有時(shí)成為儲(chǔ)能因子。對(duì)于串聯(lián)和并聯(lián)模型，電容器耗散因子D都是相同的，按如下表示為：
D=ωRsCs=1/ωRpCp (4)
串聯(lián)和并聯(lián)部分之間的關(guān)系滿足以下要求：
Cp=Cs/(1 D2) (5)
Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2 (6)
4、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入LJD-C)，實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和計(jì)算的微處理化，tanδ 測(cè)量結(jié)果的獲得無須繁瑣的人工處理，因而提高了數(shù)據(jù)的精確度和測(cè)量的同一性，是人工讀值和人工計(jì)算*的。
三、主要技術(shù)特性及配置
主要配置
序號(hào) | 構(gòu) 成 | 型 號(hào) | 數(shù)量 | 制 造 廠 家 |
1 | 主機(jī) | LJD-C | 1臺(tái) | 縱橫金鼎 |
測(cè)試裝置（夾具） | S916 | 1臺(tái) | 縱橫金鼎 | |
標(biāo)準(zhǔn)電感 | LKI-1 | 1套 | 縱橫金鼎 | |
2 | 三電極系統(tǒng)(油中、空氣中) 油中帶油槽 | 各1套 | 縱橫金鼎 | |
3 | 油槽 | 1臺(tái) | ||
4 | 日常維修工具 | 1套 | ||
說明書 |
介電常數(shù)測(cè)試儀/GB/T1409-2006介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀/相對(duì)介電常數(shù)測(cè)試儀/介質(zhì)損耗測(cè)試儀/介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀/介質(zhì)損耗角正切值測(cè)試儀/GB/T1693-2007硫化橡膠高頻介電常數(shù)測(cè)試儀/工頻介電常數(shù)測(cè)試儀/固體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀/液體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀/材料介質(zhì)損耗和電容率測(cè)試儀/阻抗分析儀/GBT5594.4-2015陶瓷件介電常數(shù)測(cè)試儀/ASTM D150-11交流損耗特性和電容率測(cè)試儀/介電常數(shù)及介損測(cè)試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)。
雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。
雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路優(yōu)化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至z低，* Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。
二、主要技術(shù)特性：
*1.信號(hào)源: DDS數(shù)字合成信號(hào) 100KHZ-160MHZ
*2.信號(hào)源頻率精度3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)
3．Q值測(cè)量范圍：1～1023
4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；
*5．電感測(cè)量范圍：1nH～140mH 自身殘余電感和測(cè)試引線電感的自動(dòng)扣除功能
*6．電容直接測(cè)量范圍：1pF～25nF
7．主電容調(diào)節(jié)范圍： 17～240pF
8．準(zhǔn)確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%
9．信號(hào)源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz
10．合格指示預(yù)置功能范圍：5～1000
11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
13. S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：
數(shù)顯式微桿，平板電容器：
極片尺寸： 38mm
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm
夾具插頭間距：25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
測(cè)微桿分辨率：0.001mm
測(cè)試極片：材料測(cè)量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm
*液體杯：測(cè)量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm
14. 介電常數(shù)測(cè)試儀/GB/T1409-2006介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀/相對(duì)介電常數(shù)測(cè)試儀/介質(zhì)損耗測(cè)試儀/介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀/介質(zhì)損耗角正切值測(cè)試儀/GB/T1693-2007硫化橡膠高頻介電常數(shù)測(cè)試儀/工頻介電常數(shù)測(cè)試儀/固體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀/液體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀/材料介質(zhì)損耗和電容率測(cè)試儀/阻抗分析儀/GBT5594.4-2015陶瓷件介電常數(shù)測(cè)試儀/ASTM D150-11交流損耗特性和電容率測(cè)試儀/介電常數(shù)及介損測(cè)試儀電感組LKI-1：
分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個(gè)電感組成。
三、配置：
主機(jī) 一臺(tái)
電感 九支
夾具 一套
液體杯 一套
隨機(jī)文件一套
