X-4顯微熔點(diǎn)儀 產(chǎn)品概述：

X-4顯微熔點(diǎn)儀 用途

    物質(zhì)的熔點(diǎn)是指該物質(zhì)由固態(tài)變?yōu)橐簯B(tài)時(shí)的溫度。在有機(jī)化學(xué)領(lǐng)域中，熔點(diǎn)測定是辨認(rèn)該物質(zhì)本性的基本手段，也是純度測定的重要方法之一。

    目視顯微熔點(diǎn)測定儀是研究、觀察物質(zhì)在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物質(zhì)三態(tài)轉(zhuǎn)化等物理變化過程的有力檢測手段。

    本儀器可用載波片方法測定物質(zhì)的熔點(diǎn)、形變、色變等；也可用藥典規(guī)定的毛細(xì)管方法測其熔點(diǎn)，尤其對(duì)深色樣品，如醫(yī)藥中間體、顏料、橡膠促進(jìn)劑等的熔點(diǎn)，并能自始自終觀察到其熔化的全過程。

X-4 特點(diǎn)

1. 本儀器使用毛細(xì)管法進(jìn)行測量。申請(qǐng)?zhí)枺?/span>  9

2. 根據(jù)特殊要求，本儀器也可用載波片——載波片法進(jìn)行測量。

3. 本儀器采用LED數(shù)字顯示熔點(diǎn)溫度值。

4. 本儀器采用熱臺(tái)控制系統(tǒng)和顯微鏡組合成一體的結(jié)構(gòu)，簡單可靠，使用方便。

5. 升溫速率連續(xù)可調(diào)。我們建議你采用1℃/分的升溫速率測量熔點(diǎn)的溫度值，在*次使用時(shí)記錄下1℃/分的升溫速率時(shí)的波段開關(guān)和電位器的編號(hào)，則以后用此位置就能得到你的所要求的升溫速率。并請(qǐng)注意（1）室溫的影響；在同樣波段開關(guān)和電位器的編號(hào)下，室溫越低，升溫速率越慢。（2）電子元件的影響：電子元件的老化，升溫速率一定時(shí)，其電位器的編號(hào)會(huì)有所變化，只要進(jìn)行微調(diào)即可。編號(hào)越大，升溫速率越快。 

X-4 主要技術(shù)參數(shù)

1. 顯微鏡采用4倍物鏡，10倍目鏡

2. 測量范圍：室溫∽320℃

3. 測量精密度：室溫∽200℃的誤差±1℃

               200℃∽320℃的誤差±2℃

4. 電源220V   50HZ   功率    80W