產(chǎn)品描述
高溫SEM原位納米壓痕儀——InSEM®HT高溫測試系統(tǒng)可在真空環(huán)境中對壓頭和樣品分別獨立進行加熱,并與許多SEM/FIB工作室或獨立真空工作室兼容。系統(tǒng)溫度可高達800°C,因而可以模擬現(xiàn)場溫度條件,以獲得可靠一致的測試數(shù)據(jù)。鉬支架上的單晶碳化鎢壓頭經(jīng)過優(yōu)化,可用于高溫測試應用,并可提供多種幾何形狀。
主要功能
· InForce 50驅(qū)動器,壓頭可加熱,用于電容位移測量,并配有電磁啟動的可互換探頭
· 樣品可升溫至800°C,采用10mm樣品尺寸和真空兼容的樣品安裝系統(tǒng)
· InQuest高速控制器電子設備,具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時間常數(shù)
· 用于樣本定位的XYZ移動系統(tǒng)
· SEM視頻捕獲,可以將SEM圖像和測試數(shù)據(jù)進行同步
· 的軟件集成壓頭校準系統(tǒng),可實現(xiàn)快速,準確的壓頭校準
· 與Windows®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設計實驗的方法開發(fā)功能
主要應用
· 高溫測試
· 硬度和模量測量(Oliver-Pharr)
· 連續(xù)剛度測量
· 高速材料性質(zhì)分布
· 蠕變測量
· 應變率靈敏度
工業(yè)應用
· 大學、研究實驗室和研究所
· 航空航天
· 汽車制造業(yè)
· 硬涂層
· 核能
· 軍事/國防