德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀采用手動或自動方式，測量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀應(yīng)用領(lǐng)域：
大批量電鍍件測量
防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
電鍍行業(yè)槽液分析
線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
測量接插件和觸點的鍍層
電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量
黃金，珠寶和手表行業(yè)
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德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀技術(shù)參數(shù)：
1、工作臺：
設(shè)計：馬達驅(qū)動可編程X/Y平臺
移動范圍：255x 235mm
X/Y平臺移動速度：≤80 mm/s
X/Y平臺移動重復(fù)精度：≤0.01 mm，單向
可用樣品放置區(qū)域：300 x 350mm
Z軸：可編程運行
Z軸移動范圍：140mm
樣品:重量5kg，降低精度可達20kg
樣品:高度140mm
2、環(huán)境要求：
使用時溫度：10℃- 40℃
存儲或運輸溫度：0℃ - 50℃
空氣相對濕度：≤95%,無結(jié)露
3、計算單元：
計算機：帶擴展卡的計算機系統(tǒng)
軟件：標準:WinFTM V.6 LIGHT、可選:WinFTM V.6 BASIC，PDM，SUPER
4、執(zhí)行標準：
CE合格標準：EN 61010
X射線標準：DIN ISO 3497和ASTM B 568
型式批準：型式許可符合德國"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)規(guī)定。
5、通用規(guī)格：
設(shè)計用途：能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(EDXRF)用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。
元素范圍：從元素氯(17)到鈾(92)，配有可選的WinFTM BASIC軟件時，可同時測定24種元素。
形式設(shè)計：臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向：從上到下
6、X射線探測：
X射線接收器：比例接收器
測量距離：0 ~ 80mm，使用專有保護的DCM測量距離補償法
7、視頻系統(tǒng)：
視頻系統(tǒng)：
CCD彩色攝像頭，沿著初級×射線光束方向觀察測量位置對被測工件進行監(jiān)控，可自動對焦或手動聚焦
十字線(帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸)可調(diào)節(jié)亮度的LED照明，激光光點用于定位樣品
放大倍數(shù)：40x-160x
8、電氣參數(shù)：
電源要求：交流220v 50Hz
功率：120W(不包括計算機)
保護等級：IP40
9、尺寸規(guī)格：
外部尺寸：寬×深×高[mm]:570 x760 x 650
內(nèi)部測量室尺寸：寬×深×高[mm]: 460 x 495 x 146
重量：120kg
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