QC-10PU全自動激光平晶干涉儀

產品技術指標

Hi-Smarc-Ⅲ-PO激光干涉儀

主要功能：測量平面光學元件的表面面形和透射光學元件的綜合波前

a) 類型：菲索干涉原理

b) 口徑：φ25.4mm

c) 顯示方式：CCD+顯示器

d) 光源：半導體激光，波長λ=635nm

e) 測量重復性：PV優(yōu)于λ/50，RMS優(yōu)于λ/100

f) 平面精度：PV（平面上 點到 點 的差異值又稱峰谷值）優(yōu)于λ/20（635nm/20大約32nm），

g) 主機重量：6.5KG

h) 外形尺寸：260×160×330mm

i) 電源：220V 50HZ

j) 量化測試時間：大約2～3秒/次

分析系統(tǒng)（軟件及計算機）

1、計算機： 計算機及10寸以上液晶顯示器

2、輸出數(shù)據(jù)：

峰谷值（PV）、標準偏差（RMS）、二維等值圖（等高圖）、干涉條紋圖；

域值設定(OK或NG)、數(shù)據(jù)可保存、可輸出打印測試報告；

開放數(shù)據(jù)輸出格式，方便后續(xù)分析；

3、測量功能

系統(tǒng)在WINDOWS 7或10下運行，允許進行網絡數(shù)據(jù)傳輸；

具有干涉圖亮度的軟件調節(jié)機制；

4、 提供移相器校正軟件，用戶可自行修正移相器位移誤差。

提供軟件升級、維護、售后技術支持及使用培訓、硬件維修；