產(chǎn)品名稱:粗糙度輪廓儀-T8000SC
產(chǎn)品詳情:
使用高分辨率數(shù)字式探測(cè)系統(tǒng)同時(shí)記錄粗糙度參數(shù)和 輪廓特征值,并且在一個(gè)流程中進(jìn)行評(píng)價(jià)。因此,該測(cè) 量系統(tǒng)為測(cè)量室和加工現(xiàn)場(chǎng)的高要求測(cè)量任務(wù)提供了 解決方案。 此系統(tǒng)性價(jià)比,應(yīng)用廣泛,性能堪與復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)室 測(cè)量系統(tǒng)媲美。
HOMMEL-ETAMIC surfscan 系統(tǒng)特征:
1. 通用測(cè)量站,既可用于測(cè)量室,也可用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的質(zhì)量檢驗(yàn)
2. 模塊化設(shè)計(jì),可進(jìn)行量身定做的個(gè)性化測(cè)量站配置
3. 可交互操作的軟件,在一份個(gè)性化設(shè)計(jì)的測(cè)量報(bào)告內(nèi)組合評(píng)價(jià)粗糙度和輪廓特征值
4. 粗糙度和輪廓共用一個(gè)探測(cè)系統(tǒng)
5. 由于量程大,無需將探測(cè)系統(tǒng)和工件表面對(duì)齊
6. 測(cè)量斜面和曲面粗糙度時(shí),6 mm量程內(nèi)具有 6 nm 分辨率
7. 測(cè)頭臂配置磁性支架,更換快速且安全
8. 粗糙度和輪廓評(píng)價(jià)軟件具有廣泛的選項(xiàng)功能
9. 可配置其它探測(cè)系統(tǒng)拓展應(yīng)用范圍,如配置wavecontour™ digital / digiscan 探測(cè)系統(tǒng)放大輪廓量程,或配置粗糙度測(cè)頭用于特殊的粗糙度測(cè)量
HOMMEL-ETAMIC surfscan 技術(shù)亮點(diǎn):
1. 同時(shí)測(cè)量粗糙度和輪廓,節(jié)約時(shí)間
2. 重復(fù)精度高
3. 測(cè)量粗糙度時(shí)省卻了耗時(shí)的基準(zhǔn)面對(duì)齊步驟
4. RFID 技術(shù)保證了測(cè)頭臂的自動(dòng)識(shí)別和測(cè)量參數(shù)的正確設(shè)置