菲希爾臺式貴金屬元素分析儀熒光鍍層測厚儀
主要技術(shù)指標(biāo):(標(biāo)★為重要參數(shù))1、測量原理:X射線熒光光譜法測量鍍層厚度2、測量方式:無損檢測,可自動聚焦3、元素測量范圍: Cl(17)--U(92),多可測量24種元素23層鍍層?!?、手動X/Y平臺,移動范圍≥95x150mm,可用工作臺面≥420x450mm5、電動Z軸,手動/自動聚焦,可移動范圍≥140mm★6、采用DCM(測量距離補(bǔ)償法)可遠(yuǎn)距離對焦測量腔體樣品,可達(dá)80mm深度★7、滿足可變高壓30KV,40KV,50KV三種可調(diào)節(jié),以滿足不同的測試需求。★8、準(zhǔn)直器:φ0.3的圓形準(zhǔn)直器9、X射線探測器:比例接收器10、統(tǒng)計計算:數(shù)據(jù)組帶時間和時期功能,統(tǒng)計功能包含平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、大值、小值等;還可輸入公差范圍,計算CP和Cpk值,超范圍值時儀器應(yīng)有自動報警提示功能11、windows7以上中文操作界面,WinFTM專業(yè)測試軟件,具備連接PC和打印機(jī)的USB借口★12、測量誤差:鍍層厚度≥0.5um時,頂層鍍層測量精度≤5%★13、采用基本參數(shù)法,內(nèi)置1
菲希爾臺式貴金屬元素分析儀熒光鍍層測厚儀
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