- COMPACT EcoX射線熒光光譜儀用于合金分析和鑒定
- 一、功能
- 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
- 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
- 鍍層層數(shù)：多至5層（含底材）。
- 測量點(diǎn)尺寸：圓形測量點(diǎn)，直徑約0.3毫米。
- 測量時(shí)間：通常30秒。
- 樣品*大尺寸：380mm長×340mm寬×250mm高。
- 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
- 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。
- 二、特點(diǎn)和數(shù)據(jù)
- 采用基本參數(shù)法校準(zhǔn)，可在無薄膜標(biāo)樣情況下生成校準(zhǔn)曲線以完成測量。
- X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面高低不一的樣品也可以正確測量。反之，如果是從下至上的照射方式，遇到表面凹凸的樣品，無法調(diào)整Z軸距離，導(dǎo)致測量光程的變化，引起測量的誤差。例如（舉例不同距離導(dǎo)致的誤差數(shù)據(jù)）。
- 開放的校準(zhǔn)模式，用戶可自行建立校準(zhǔn)曲線不受儀器廠家限制。
- 提供符合NIST美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)協(xié)會要求，A2LA美國實(shí)驗(yàn)室協(xié)會認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)樣品，可驗(yàn)證測量結(jié)果并讓實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)具有可追溯性。
Windows 7操作系統(tǒng)，數(shù)據(jù)可存儲，轉(zhuǎn)移，并可一鍵生成包含測量數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值、樣品圖片和趨勢圖等要素的報(bào)告（word格式）。
- 三、參數(shù)
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| **以下為標(biāo)準(zhǔn)配置清單** | |||
| 序號 | 描述 | 數(shù)量 | 備注 |
| 1.1 | COMPACT Eco主機(jī)和樣品倉，內(nèi)部包括： 高壓發(fā)生器HV generator 標(biāo)準(zhǔn)X射線管standard x-ray tube (TWG) 彩色圖像系統(tǒng)color video & frame grabber 手動Z軸 圓形，單準(zhǔn)直器0.3毫米直徑single collimator 0.3mm ADC4模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC4(analog-to-digital converter) | 1臺 | |
| 1.2 | 操作和校準(zhǔn)軟件系統(tǒng)，包括： X-Master操作模塊 µ-Master測量模塊 Element-Master元素定性半定量分析模塊 Fun-Master基本參數(shù)法校準(zhǔn)模塊 | 1套 | |
| 1.3 | Terra電腦，配置如下 Intel Pentium G2030, 2G RAM, 500G硬盤 (配置相當(dāng)或者更高) Microsoft TM Windows7 32 bit | 1臺 | |
| 1.4 | 19" TFT平板彩色顯示器 | 1臺 | |
