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Hitachi CDSEM S9380 Retrofit

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公司名稱天津東方科捷科技有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2023/3/5 10:36:20
訪問(wèn)次數(shù)683

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

東方科捷科技有限公司 Orient KOJI （Hongkong) Ltd.主營(yíng)業(yè)務(wù)包括：代理銷售、研發(fā)生產(chǎn)用于科學(xué)研究及測(cè)試用高技術(shù)設(shè)備、附件、耗材及服務(wù)；公司基于專業(yè)的技術(shù)及研發(fā)團(tuán)隊(duì)，為國(guó)內(nèi)科研團(tuán)隊(duì)和測(cè)試領(lǐng)域提供化的設(shè)備配置和測(cè)試方案；代理銷售品牌：HORIBA Scientific（堀場(chǎng)），ISS（ISS公司），Oxford（牛津），Otsuka（大塚），HITACHI high-technology (日立高新)，Hamamatsu Photonics (濱松光子學(xué))，UltraFast System，SPECTRA-PHYSICS（光譜物理），Semrock；主要代理產(chǎn)品：l HORIBA Scientific 光譜儀、穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀、激光共焦拉曼成像光譜儀（Raman）、納米拉曼成像光譜儀（nanoRaman）、陰極射線發(fā)光光譜儀CL；x射線熒光光譜儀（油中硫分析儀），碳/硫氧/氮/氫元素分析儀；x射線熒光顯微鏡；輝光放電--元素深度分布分析儀（GD-OES），橢圓偏振光譜儀；l ISS公司的激光共焦多維熒光成像系統(tǒng)FLIM/PLIM/FCS，激光共焦超分辨成像顯微鏡STED-ALBA；特色：時(shí)間分辨的空間分布成像；時(shí)間分辨的空間超分辨成像；壽命范圍100ps-100ms；波長(zhǎng)范圍可選350nm-1600nm；二維振鏡掃描標(biāo)準(zhǔn)配置，自動(dòng)可調(diào)針孔共焦；l Oxford公司的低溫恒溫器及磁場(chǎng)系統(tǒng)；l HITACHI公司的二手CDSEM（工業(yè)）和FESEM；l 飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀fs-TAS; 飛秒時(shí)間分辨拉曼光譜儀；l 專業(yè)光致發(fā)光量子效率測(cè)試系統(tǒng)—覆蓋紫外可見近紅外波長(zhǎng)范圍（350-1600nm），包括上轉(zhuǎn)換發(fā)光，單態(tài)氧發(fā)光量子效率測(cè)試；提供溫度變化環(huán)境；Orient KOJI自有產(chǎn)品l QY-2000 積分球熒光光譜儀用于重現(xiàn)性的光致發(fā)光量子效率測(cè)量；l EzTime-PL 時(shí)間分辨調(diào)制模塊，用于上轉(zhuǎn)換壽命和EL時(shí)間分辨發(fā)光光譜測(cè)量；l TAP-02 高溫?zé)晒飧郊?；用于熱穩(wěn)定性及熱猝滅熒光測(cè)試；l Cryo-77液氮低溫恒溫器 (77-500K)；l 定制量子效率測(cè)試系統(tǒng)；l 定制相關(guān)激光共焦掃描、量子效率、光譜（成像）測(cè)量、時(shí)間分辨（成像）、磁場(chǎng)、低溫等集成技術(shù)的測(cè)試系統(tǒng)；

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Hitachi CDSEM S9380 Retrofit

Hitachi CDSEM S9380 Retrofit 產(chǎn)品信息

Retrofit CDSEM S-9380 執(zhí)行原廠新機(jī)器同樣驗(yàn)收技術(shù)指標(biāo)：

提供樣品測(cè)試驗(yàn)證；

General

Wafer size : 8-inch (200-mm size)

V-notch wafer of SEMI or JEIDA standards is applicable.

CD measurement principle : Cursor and line profile measurement

CD measurement range : 0.05 to 2.0 mm (either line width or hole diameter)

CD measurement reproducibility : ±1% or 0.6 nm (3 sigma), whichever larger