設備介紹
Tecnai G2 F20透射電子顯微鏡是一個多功能、多用戶環(huán)境的200kV場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HADF、CCD等附件,能采集TEM明場、暗場像和髙分辨像,能進行選區(qū)電子衍射,能進行EDX能譜分析和髙分辨STEM原子序數(shù)像的分析,STEM結(jié)合EⅨ點、線掃描的可以進行微區(qū)能譜分析。
儀器型號
FEI Tecnai G2 F20
技術參數(shù)
- 放大倍數(shù)105萬倍(1,050,000×)
- 點分辨率0.24nm加速電壓:200KV
- 極限(信息)分辨率0.14nm
- STEM分辨率0.2nm
- 最小束斑尺寸0.2nm
- 物鏡球差系數(shù)Cs1.2nm
- 物鏡色差系數(shù)Cc1.2nm
- Ⅹ射線能譜范圍B5~U92X
- 射線能譜儀能量分辨率136eV
案例展示
應用范圍
Tecnai G2 F20透射電子顯微鏡可進行:(1)形貌分析,它獲得非晶材料的質(zhì)厚襯度像,多晶材料的衍射襯度像和單晶薄膜的相位襯度像(原子像),通過形貌分析可獲得樣品的形貌、粒徑、分散性等相關信息,冋時還可通過明場像、暗場像對樣品進行進一步的表征;(2)結(jié)構分析,觀察硏究材料結(jié)構并對樣品進行納米尺度的微分析,如:髙分辨晶格條紋像,選取電子衍射等。(3)成分分析:小到幾個納米尺度的微區(qū)或晶粒的成分分析,可對樣品進行能譜點測、能譜線掃,獲得樣品中的元素在一個點、一條線的分布情況。Tecnai G2 F20透射電子顯微鏡廣泛應用于髙分子材料、陶瓷、納米材料、生物學、醫(yī)學、化學、物理學、地質(zhì)學、金屬、半導體材料等領域的科硏。