賽默飛 Nexsa™ X 射線光電子能譜儀 (XPS) 系統(tǒng)能提供全自動(dòng)、高通量的多技術(shù)分析,并可保持研究級(jí)結(jié)果的高質(zhì)量水平。ISS、UPS、REELS、拉曼等多種分析技術(shù)集于一身,用戶因此能夠進(jìn)行真正意義上的相關(guān)性分析,從而為微電子、超薄膜、納米技術(shù)開(kāi)發(fā)以及許多其他應(yīng)用進(jìn)一步取得進(jìn)展釋放潛能。
賽默飛 Nexsa™ X 射線光電子能譜儀 (XPS) 具有靈活性,可限度地發(fā)揮材料潛能。在使結(jié)果保持研究級(jí)質(zhì)量水平的同時(shí),以多重整合技術(shù)選項(xiàng)的形式提供靈活性,從而實(shí)現(xiàn)真正意義上的相關(guān)性數(shù)據(jù)分析和高通量。
標(biāo)準(zhǔn)化功能催生強(qiáng)大性能:
絕緣體分析
高性能光譜
深度剖析
多技術(shù)整合
雙模式離子源,使深度剖析功能得到擴(kuò)展
用于 ARXPS 測(cè)量的傾斜模塊
用于儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報(bào)告的 Avantage 軟件
小光斑分析
可選的升級(jí):可將任何全自動(dòng)化集成技術(shù)添加到您的分析中。觸動(dòng)按鈕即可運(yùn)行。
ISS:在離子散射光譜技術(shù)中,一束離子可被某物體表面散射
UPS:紫外光電子能譜是指對(duì)吸收了紫外光子的分子所發(fā)射的光電子動(dòng)能譜進(jìn)行測(cè)量,以確定化合價(jià)區(qū)域中的分子軌道能量
拉曼:能譜技術(shù)在化學(xué)領(lǐng)域被用于提供結(jié)構(gòu)指紋
REELS:反射電子能量損失譜
借助 SnapMap 的光學(xué)視圖,聚焦于樣品特征。光學(xué)視圖可以幫助您快速定位感興趣區(qū)域,同時(shí)生成聚焦的 XPS 圖像,以進(jìn)一步定義您的實(shí)驗(yàn)。
X 射線照射樣品上的一個(gè)小區(qū)域。
收集來(lái)自這一小區(qū)域的光電子并將其聚焦于分析儀
隨著鏡臺(tái)的移動(dòng),不斷采集能譜
在整個(gè)數(shù)據(jù)采集過(guò)程中監(jiān)測(cè)鏡臺(tái)位置,這些位置用來(lái)生成 SnapMap
禹重科技(UZONGLAB)是一家立足華東,以拓展全國(guó)市場(chǎng)為主的進(jìn)口儀器貿(mào)易和技術(shù)咨詢服務(wù)公司,下設(shè)三個(gè)事業(yè)部和一個(gè)中心,即分析儀器事業(yè)部、標(biāo)耗備件事業(yè)部、大客戶項(xiàng)目部、以及中禹聯(lián)重檢測(cè)技術(shù)中心。 作為T(mén)hermo Science(賽默飛)、ZEISS(蔡司)、 Zwick(茲維克)和INNOVATEST(軼諾)品牌的核心代理商,禹重科技?(UZONGLAB)將*的分析測(cè)試前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國(guó)內(nèi)客戶,為高校、科研院所、政府機(jī)構(gòu)以及材質(zhì)工業(yè)過(guò)程控制等行業(yè),提供金屬和非金屬材料的成分分析儀器、表面分析儀器、硬度和力學(xué)設(shè)備以及樣品前處理平臺(tái)等儀器產(chǎn)品,同時(shí)提供標(biāo)準(zhǔn)樣品和小型試驗(yàn)設(shè)備銷(xiāo)售、材料測(cè)試咨詢等綜合服務(wù)。 從冶金鑄造和功能材料的開(kāi)發(fā);船舶建造和石化裝備升級(jí)換代;到汽車(chē)零部件和電子電工的可靠性測(cè)試;環(huán)境檢測(cè)和工業(yè)品品質(zhì)的不斷提升,禹重科技?(UZONGLAB)在這些方面都發(fā)揮著實(shí)實(shí)在在的作用。 我們具備豐富的經(jīng)驗(yàn),充分了解每個(gè)客戶的核心需求,并致力于提供Z佳的解決方案。為客戶提供更專(zhuān)業(yè)、更安全、更便捷的產(chǎn)品和服務(wù)是我們的*目標(biāo)。
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賽默飛 Nexsa™ X 射線光電子能譜儀 XPS 產(chǎn)品信息
關(guān)鍵詞:能譜儀 數(shù)據(jù)采集