1.儀器設(shè)備簡介

Bruker D8 Advance采用當(dāng)前的技術(shù)，能夠精確地對金屬和非金屬多晶樣品進(jìn)行物相定性、定量分析。儀器應(yīng)包括長壽命X射線光管、高精度測角儀、能量色散探測器以及相關(guān)外圍設(shè)備。設(shè)備總價(jià)14萬美元。

采用新一代陶瓷X光管技術(shù)，焦斑位置穩(wěn)定，衰減小，壽命長，尺寸標(biāo)準(zhǔn)；采用封閉靶技術(shù)，后期維護(hù)方便；新一代林克斯XE探測器，分辨率比上一代提升一個(gè)數(shù)量級。

2.測試項(xiàng)目

（1）物相定性分析

（2）物相定量分析

（3）精確測定點(diǎn)陣常數(shù)

（4）晶粒大小及晶格畸變測定

3.送樣要求

可接收粉末、塊體和薄膜測試，具體要求如下。

粉末：過200目篩，樣品量不少于0.5g；極少量樣品可選無背景樣品臺。

塊體：被測面平整且盡量光滑，確保樣品能裝入φ25mm×3mm的樣品槽，若樣品尺寸更大，請咨詢設(shè)備。

薄膜：若采用反射模式，尺寸要求同塊體；若選用透射模式，要求樣品有一定的柔韌性，具體咨詢設(shè)備負(fù)責(zé)人。

液體及膠體樣品：無法檢測。

測試案例：