品牌資料

產(chǎn)品名稱：三豐SV-C3200粗糙度輪廓測量儀

型號：SV-C3200

規(guī)格：

市場價(jià)：0.00

優(yōu)惠價(jià)：0.00

產(chǎn)品簡介

Formtracer(表面粗糙度/輪廓測量裝置)SV-C3200/SV-C4200

簡單介紹
三豐表面粗糙度/輪廓測量儀 SV-C3200大幅提高的驅(qū)動速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進(jìn)一步減少了總的測量時(shí)間。
為了更長時(shí)間地保持直線度，三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅(jiān)固的陶瓷導(dǎo)軌；驅(qū)動器 (X 軸) 和立柱 (Z2 軸) 均配備了高精度線形編碼器 (其中Z2 軸上為ABS 型)。因此，在垂直方向?qū)π】走B續(xù)自動測量、對較難定位部件的重復(fù)測量的重復(fù)精度得以提高。

特長：
本機(jī)為電動型支柱，觸針式輪廓形狀、表面粗度量測兩用的復(fù)軟件論壇合機(jī)。
輪廓形狀量測用Z軸檢出器搭載Holographic光學(xué)尺（SV-C4200）、反射型光學(xué)尺（SV-C3200）。
表面粗度量測用Z軸檢出裝置，可對應(yīng)ISO/新JIS。
檢出器的滑動部為2段式，可提升檢出器交換時(shí)的操作性。
資料處理軟體，可做高難度的輪廓形狀、粗度的評價(jià)解析。
資料處理裝置的通訊系統(tǒng)使用RS-232C。

表面粗糙度測量

直線度:±(0.05+0.001L)μm*專用于需要高精度測量的工件。

*S4型、H4型、W4型；L為驅(qū)動長度(mm)

符合JIS'82/'94/'01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的國際標(biāo)準(zhǔn)。

標(biāo)準(zhǔn)配置：高精度測頭(0.75mN/4mN測力)，分辨率高至0.0001μm。

自動測量

在與CNC機(jī)型配套使用的眾多外設(shè)選件的支持下，可實(shí)現(xiàn)自動測量。

輪廓驅(qū)動測量

X軸精度:±(0.8+0.01L)μm*Z1軸精度:±(0.8+I0.5HI/25)μm*專用于需要高精度測量的工件。

*SV-C4100S4型、H4型、W4型；L為驅(qū)動長度,H為測量高度(mm)

SV-C4100系列的輪廓驅(qū)動器配備了激光全息測微計(jì)測頭，Z1軸寬／窄范圍均能達(dá)到的精度和分辨率。

基本技術(shù)參數(shù):

基座尺寸(WxH):750x600mm或1000x450mm

基座材料:花崗巖

重量

　主機(jī):140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)

140kg(S8),150kg(H8),220kg(W8)

　控制器:14kg

　遙控箱:0.9kg

電源:100–240VAC±10%,50/60Hz

能耗:400W(主機(jī))

輪廓測量技術(shù)參數(shù):

X軸

　測量范圍:100mm或200mm

　分辨率:0.05μm

　檢測方法:反射型線性編碼器

　驅(qū)動速度:80mm/s、外加手動

　測量速度:0.02-5mm/s

　移動方向:向前／向后

　直線度:0.8μm/100mm,2μm/200mm

*以X軸為水平方向上

　直線位移:±(1+0.01L)μm(SV-C3100S4,H4,W4)

　精度(20°C時(shí))±(0.8+0.01L)μm(SV-C4100S4,H4,W4)

±(1+0.02L)μm(SV-C3100S8,H8,W8)

±(0.8+0.02L)μm(SV-C4100S8,H8,W8)

*L為驅(qū)動長度(mm)

　傾角范圍:±45°

Z2軸(立柱)

　垂直移動:300mm或500mm

　分辨率:1μm

　檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器

　驅(qū)動速度:0-20mm/s、外加手動

Z1軸(檢測器)

　測量范圍:±25mm

　分辨率:0.2μm(SV-C3100),

　0.05μm(SV-C4100)

　檢測方法:線性編碼器(SV-C3100),

　激光全息測微計(jì)(SV-C4100)

　直線位移:±(2+I4HI/100)μm(SV-C3100)

精度(20°C時(shí))±(0.8+I0.5HI/25)μm(SV-C4100)

*H:基于水平位置的測量高度(mm)

　測針上／下運(yùn)作:弧形移動

　測針方向:向上／向下

　測力:30mN

　跟蹤角度:向上:77°,向下:87°

(使用配置的標(biāo)準(zhǔn)測頭，依表面粗

糙度而定)

測針針尖半徑:25μm、硬質(zhì)合金

表面粗糙度測量的技術(shù)參數(shù)：

X1軸

　測量范圍:100mm或200mm

　分辨率:0.05μm

　檢測方法:線性編碼器

　驅(qū)動速度:80mm/s

　移動方向:向后

　直線度:(0.05+1.5L/1000)μm(S4,H4,W4型)

0.5μm/200mm(S8,H8,W8型)

Z2軸(立柱)

　垂直移動:300mm或500mm

　分辨率:1μm

　檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器

　驅(qū)動速度:0-20mm/s、外加手動

檢測器

　范圍／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,

8μm/0.0001μm

(2400μm使用測頭選件)

　檢測方法:無軌／有軌測量

　測力:4mN或0.75mN(低測力型)

　測針針尖:金剛石、90º/5μmR

(60º/2μmR:低測力型)

　導(dǎo)頭曲率半徑:40mm

　檢測方法:差動電感式

軟件選件

DUALTRACEPAK

測量裝置可自動運(yùn)行，安裝了表面粗糙度驅(qū)動裝置后，表面粗糙度分析程序SURFPAK-SV自動啟動。同樣，安裝了輪廓驅(qū)動裝置后，形狀分析程序FORMPAK-1000也自動啟動。即使Formtracer已關(guān)閉，離線分析所需程序仍可從屏幕菜單中選出并運(yùn)行。

ForMTRACEPAK

使用該軟件可以控制馬達(dá)驅(qū)動的Y軸工作臺和旋轉(zhuǎn)臺選件，從而實(shí)現(xiàn)自動測量。使用該軟件還可以進(jìn)行輪廓評估，這項(xiàng)評估包括對級差，角度，深度，面積和其他基于表面粗糙度數(shù)據(jù)的特性進(jìn)行分析。另外，還可以通過設(shè)置打印格式建立原始檢測證書，以適應(yīng)不同的需求。

性能參數(shù)：