在測量站使用 MarSurf XCR 20 測量粗糙度和輪廓
這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執(zhí)行表面粗糙度和
輪廓測量。
根據(jù)測量任務(wù)，可使用 GD 25 驅(qū)動裝置進行表面粗糙度測量，或使用 PCV 驅(qū)動裝置進行輪廓測量。
兩個測量系統(tǒng)通過組合支架固定到測量立柱。
這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執(zhí)行表面粗糙度和
輪廓測量。
根據(jù)測量任務(wù)，可使用 GD 25 驅(qū)動裝置進行表面粗糙度測量，或使用 PCV 驅(qū)動裝置進行輪廓測量。
兩個測量系統(tǒng)通過組合支架固定到測量立柱。
- 節(jié)省空間型設(shè)計：兩個驅(qū)動裝置可使用相應(yīng)的組裝支架安裝到 MarSurf ST 500 或 ST 750 測量立柱
- 一次測量即可完成粗糙度和輪廓評估
- 使用 MarSurf LD 130 / LD 260 測量系統(tǒng)對組件進行高精密度輪廓和粗糙度評估需要長行程和的分辨率
- 只需在軟件平臺內(nèi)進行切換并更換驅(qū)動裝置和測頭等機械組件即可快速更換粗糙度和輪廓測量
| 接觸速度（Z 方向） | 0.1 至 1 mm/s |
|---|---|
| 測桿長度 | 175 mm, 350 mm |
| 測量速度（文本） | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
| 針尖半徑 | 25 |
| 掃描長度末尾（X 方向） | 200 mm |
| 分辨率 | Z 方向，相對探針針頭： Z 方向，相對測量系統(tǒng)： |
| 掃描長度開始（X 方向） | 0.2 mm |
| 取樣角 | 在平滑表面上，取決于偏差： 后緣高至 88°，前緣高至 77° |
| 定位速度（文本） | X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s Z 方向：0.2 至 10 mm/s |
| 導(dǎo)塊偏差 | < 1 µm（200 mm 以上） |
| 測量原則 | 探針法 |
| 輸入 | R 測頭，MFW 250 光學(xué)測頭 Focodyn*、LS 1*、LS 10* （*僅結(jié)合 PGK 或 GD 120 CNC 驅(qū)動裝置） |
| 測量范圍 mm | (in Z) 50 mm MFW 250: ±25 µm，±250 µm，（ ±750 µm）；±1000 µin，±10,000 µin（ ±30,000 µm） |
| 掃描長度（文本） | 自動；0.56 mm；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm， （.022 / .070 / .224 / .700 / 2.240 英寸）， 測量至擋塊，可變 |
| 采樣長度數(shù)量符合 ISO/JIS | 1 至 50（默認：5） |
| 測量力 (N) | 1 mN 至 120 mN 左右 （可在 MarSurf XC 20 中設(shè)置） |
- MarSurf ST 750 測量立柱
- 平行虎鉗
- 設(shè)備工作臺
軟件選項：
- 輪廓處理選項
- 主波紋度選項
- 用戶定義參數(shù)
- 拓撲選項
- QS-STAT / QS-STAT Plus 選項
- 螺紋評定選項
- 將測量站與一個測量支架和兩個驅(qū)動裝置結(jié)合（PCV 200 和 MarSurf GD 25）
- 將測量站與快速更換支架結(jié)合 (GD 120, PCV 20)
- MarSurf LD 130 / 260 用于對組件進行精密輪廓和粗糙度評估
- MarSurf XCR 20 包含計算機、MidRange Standard、MarSurf XCR 20 軟件、Mahr 許可密鑰
- TFT 顯示器
- MarSurf PCV 200 / MarSurf GD 25 驅(qū)動裝置
- MarSurf ST 500 測量立柱包含組裝支架
- 校準套件，PGN-3
- MCP 21 手動控制面板
- CT 300 XY 工作臺
