NTEGRA Spectra
是一款的集成了掃描探針顯微鏡、激光共聚焦/熒光顯微鏡和拉曼光譜儀的系統。其強大的TERS效應，可在得到拉曼光譜的同時獲得高達50nm的成像分辨率。
只有NTEGRA Spectra能在軟件、硬件等技術方面為集成Renishaw的拉曼光譜系統提供的方案，以便用戶能在分子水平上用不同的技術手段來分析、研究樣品。這樣的集成，能讓用戶極大的提高工作效率，將更多的時間用于數據采集和分析，而無需為繁瑣的儀器操作而苦惱。所以，可以負責任的說：真正的集成是遠遠優(yōu)于簡單的組合的。
激光共聚焦顯微鏡/拉曼光譜儀系統
NTEGRA Spectra 系統集成了激光掃描共焦光譜儀、光學顯微鏡和常規(guī)的掃描探針顯微鏡。該系統能用于發(fā)光光譜和拉曼散射的三維成像、所有的SPM功能，包括納米壓痕、納米加工和納米刻蝕等
掃描探針顯微鏡
除了光學檢測外，NTEGRA Spectra還可使用SPM的方法來研究樣品，諸如：AFM、MFM、STM、SNOM、力譜等等。這樣的集成了光學方法和掃描探針方法合二為一的系統，為用戶完成復雜的實驗變成可能，用戶可從實驗中得到樣品的光學分布信息、化學性質、力學性質、電學性質和磁學性質等。
用超越激光衍射極限的系統來研究樣品
NTEGRA Spectra 在檢測樣品時，能提供超越激光光學衍射的光學分辨率。近場光學顯微鏡和TERS系統能讓用戶得到光學性質分布圖（激光傳輸、散射和偏振等）的同時獲得拉曼散射光譜和高達50nm的XY方向分辨率。
技術參數：
共聚焦顯微鏡
光學模塊 正置或倒置光學顯微鏡觀測系統
可見光譜測量 (390-800nm)
激發(fā)光路中配置手動式格蘭-泰勒起偏棱鏡 390-1000nm
檢測光路中配置電動式格蘭-泰勒檢偏棱鏡 390-1000nm
三軸定位電動式1/2波片
光束分離器
可選配倏逝激發(fā)系統（用于TERS）
光學分辨率 XY： 200nm
Z：500nm
掃描模塊 樣品質量：1000g
掃描范圍：100x100x25 um
XYZ三維全量程閉環(huán)控制掃描系統
XY方向非線性度： % （典型值）
Z方向噪音水平： XY方向噪音水平：共聚焦針孔 直徑0~可調，步進 um
注：無論樣品是否透明，都可用我們的共聚焦顯微鏡在空氣或液體環(huán)境中對其進行研究。
拉曼光譜儀
光譜儀焦長 520 mm
激光器波長* 441, 488, 514, 532, 633 nm
雜散光抑制 10-5，（20nm 用632nm激光器 ）
平場面積 28 mm x 10 mm
光譜分辨率 nm (1200 l/mm光柵 )
端口 1輸入，2輸出
光柵座 4孔轉盤（3 個光柵+“直接成像”模式用的反射鏡）
探測器 CCD：光譜響應范圍：200–1000 nm，電冷裝置冷卻至–80°C，500nm時95% 量子效率
用于光子計數的APD 光譜相應范圍：400–1000 nm，暗計數=25/秒，提供高達1GHz計算速度的PCI 卡。 * 標準配置中包括一套488 nm激光器，其他波長激光器可選配
可選配其他光柵。小階梯光柵具有的光譜分辨率
可選用PMT
掃描近場光學顯微鏡
功能模式：剪切力成像/SNOM反射模式，透射模式，熒光模式（選配）
激光模塊 耦合裝置：X-Y-Z 定位器，定位精度1 um
V型槽光纖固定器
裝配40x物鏡
光纖傳輸系統 KineFlexTM
光束衰減器：可配多種減光鏡
剪切力成像 樣品尺寸：直徑100mm，厚度15mm
XY二維樣品移動平臺：樣品定位范圍5x5mm，樣品定位精度5um
XYZ三維全量程閉環(huán)控制掃描系統
樣品掃描式 針尖掃描式
掃描范圍 100x100x25 um 100x100x7 um
非線性度 XY %（典型值） 噪音水平 Z 噪音水平 XY 石英音叉基頻 190 kHz
光纖孔徑 可同時采集的數據通道 反射模式
透射模式/熒光模式
PMT 光譜響應范圍：185-850 nm
靈敏度：3x1010，420 nm時
隔振系統 主動式： Hz
被動式：大于1 kHz
掃描探針顯微鏡
功能模式：AFM（接觸+半接觸+非接觸）/側向力模式/相位成像模式/力調制模式/粘滯力成像/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡/掃描電容顯微鏡/掃描開爾文探針顯微鏡/擴展電阻成像模式/刻蝕：AFM（力和電流）
樣品尺寸* 直徑100mm，厚度15mm
掃描范圍 50x50x5 um
閉環(huán)控制系統 XYZ三維全量程閉環(huán)控制掃描系統，采用電容傳感器
非線性度 XY 噪音水平 Z nm（典型值），噪音水平 XY nm（典型值），*掃描頭部可單獨使用，此時對樣品尺寸和重量無限制
內置的電容傳感器擁有極低的噪音水平，即使降到50x50 nm的區(qū)域也可以用閉環(huán)控制來掃描
主要特點：
AFM探針和激光光斑的同步協調。AFM探針可在納米級的精度上定位于激光光斑中—在TERS中，這是必要的條件。在激光掃描和樣品掃描的6個軸中，全部采用全量程閉環(huán)控制系統。
高數值孔徑的光學物鏡和SPM系統緊密的集成在一起，讓系統的光學穩(wěn)定性達到的高度—為長程和微弱的信號而設計。
反射模式的激光光路可用于激光共聚焦成像。
電冷至-70°C的CCD，用于光譜探測和成像。
也可選用APD來進行光子計數。
在激發(fā)通道和檢測通道中，用戶可靈活方便的配置偏光光路。
多功能的集成軟件控制系統，所有的系統模塊包括AFM、光路系統和機械系統都由統一的軟件來控制。激光器、光柵、針孔等等，都可由軟件來切換或調節(jié)。
NT-MDT可根據用戶需求定制不同使用需求的TERS系統。
