手持X射線熒光光譜儀按照不同的應(yīng)用領(lǐng)域可分為：有害元素分析儀，合分析儀、土壤分析儀、貴金屬分析儀和礦石分析儀等一系列型，其中手持式能量色散礦石分析儀已廣泛應(yīng)用于各類地質(zhì)礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析及考古研究中。檢測樣品包括從硫至鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。
技術(shù)參數(shù)： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激發(fā)源： X射線管，Ag靶，40kV 檢測器： SI-PIN檢測器 操作系統(tǒng)：HP掌上電腦：Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統(tǒng)：Peltier 半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng) 電源： 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件：溫度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 　濕度：0～95%

手持式分析儀 探測器：13mm2 電致冷Si-PIN探測器 激發(fā)源：40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測時間：10-200秒（可手持式或座立式測試） 檢測對象：固體、液體、粉末 檢測范圍：硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時分析元素：多至26個元素 元素檢出限：0.001%～0.01% 校正方式： 銀(Ag) 性：自帶模式，非人員無法使用 Data使用性：可在PDA內(nèi)進(jìn)行編輯，可導(dǎo)入PC機(jī)進(jìn)行 保存打印，配備海量存儲卡 電 源： 兩塊鋰電池滿電可連續(xù)工作8小時

手持式光譜儀設(shè)備維護(hù)與保養(yǎng)： 　　
1.手持式光譜儀使用過程中應(yīng)輕拿輕放，防止內(nèi)部零件受損。
 2.保持檢測口薄膜的清潔，檢測口薄膜被污染可能引起檢測誤差。檢測口薄膜破損繼續(xù)使用可能會造成手持式光譜儀的損壞。應(yīng)及時清潔或更換。 　　
3.被檢測物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機(jī)或金剛砂去除，以免造成測量結(jié)果不準(zhǔn)確，被檢測物表面凹凸不平、有毛刺時應(yīng)在檢測時注意，防止手持式光譜儀檢測口薄膜損壞。檢測鍍件時，要將電鍍層去除。 　　
4.手持式光譜儀電池使用至10%時，應(yīng)更換電池，充電。

手持合金光譜儀可分析黑色金屬、有色金屬、合金的化學(xué)成分，能幫助客戶在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、防范、事故調(diào)查等現(xiàn)場應(yīng)用領(lǐng)域中，進(jìn)行合號鑒別、金屬成分分析，獲得準(zhǔn)確、可靠的分析檢測結(jié)果。 現(xiàn)場無損檢測。擁有廣泛、可自定義牌號庫，保證合金鑒別。
手持式光譜儀具有以下特點(diǎn)：
 1、高精密度和準(zhǔn)確度的牌號與回收交易； 2、的分析度提高金屬分揀效率； 3、開機(jī)：數(shù)秒內(nèi)完成開機(jī)并進(jìn)行檢測； 4、鑒別合金，高度的化學(xué)成分分析； 5、的牌號庫，覆蓋 1,600多種合金； 6、檢出限，可對各種雜質(zhì)元素和有害元素進(jìn)行準(zhǔn)確的定量分析； 7、IP54 防護(hù)等級，即使在惡劣的環(huán)境中依然能夠使用； 8、良好的合金鑒別及化學(xué)分析可靠性； 9、提供、的輕元素分析（從Mg到S），可滿足大多數(shù)商業(yè)用合金的分析檢測，包括鋁、鈦、銅和高溫合金等； 10、分揀，分析； 11、重量輕（1.5公斤）、外形小，符合人體工學(xué)設(shè)計，電池續(xù)航時間長達(dá) 10至12小時； 12、樣品尺寸和形狀自動補(bǔ)償，可對直徑小至 1mm的管材、桿材、線材，焊縫、緊固件、車削下腳和碎屑進(jìn)行分析； 13、手持式光譜儀堅固耐用 14、可選防護(hù)窗口，防止探頭和X射線管在測試小部件和尖銳物體時受損； 15、可更換的防護(hù)窗口：無需使用任何工具便可切換已損壞或玷污的窗口； 16、耐沖擊外殼，顯示屏、探頭和電池周圍均采用環(huán)保密封和減震橡膠，防止受到撞擊； 17、大型散熱器，即便在高溫環(huán)境下也能提供理想的可靠性和穩(wěn)定性；