微電子技術(shù)服務(wù)的優(yōu)勢(shì) Competitive Advantages
專業(yè)的研究隊(duì)伍 嚴(yán)謹(jǐn)?shù)墓ぷ鲬B(tài)度 豐富的理論知識(shí) 長(zhǎng)期的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn) | Professional Research Team Rigorous Working Attitude Abundant Theoretical Knowledge Extended Practical Experience |
產(chǎn)生的效益 Benefits
*集成電路工藝、版圖結(jié)構(gòu)分析及設(shè)計(jì)驗(yàn)證,增強(qiáng)集成電路設(shè)計(jì)的研發(fā)能力
集成電路生產(chǎn)、封裝和使用全過程質(zhì)量和可靠性評(píng)價(jià),提高產(chǎn)品的成品率和可靠性
集成電路可用性分析,保證合適電路應(yīng)用于合適的環(huán)境
服務(wù)內(nèi)容 Services
集成電路測(cè)試、篩選 IC Test / screening
集成電路功能測(cè)試、參數(shù)測(cè)試 集成電路微缺陷分析 集成電路質(zhì)量一致性檢驗(yàn) 集成電路老化、篩選試驗(yàn) 集成電路壽命試驗(yàn) 集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證 | Functional Test, Parameter Test Micro-defect Analysis Quality Conformance Procedure Burn-in and Screening Test Life Test Design Verification |
集成電路可靠性評(píng)估Reliability Evaluation for IC
塑封電路質(zhì)量評(píng)價(jià) 封裝缺陷無損檢測(cè)及分析 ESD等級(jí)、Latch-up測(cè)試評(píng)價(jià) IC工藝可靠性測(cè)試結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) IC拍照與電路圖翻譯技術(shù)服務(wù) | Quality Evaluation for Plastic Encapsulated Micro-circuit Non-destructive Test and Analysis for Package Defect ESD, Latch-up Test IC Process Control Monitor Design IC layout reverse design |
微電子技術(shù)服務(wù)的優(yōu)勢(shì)
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服務(wù)模式
按檢測(cè)項(xiàng)目計(jì)費(fèi)
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