平面光學元件光譜分析儀QSP-3000

用途：

QSP-3000是一套全波長的光譜分析儀，用于快速測量各類平面光學元件的反射、

透射光譜，可進行多角度 反射率、相對反射率、透射率測量，偏振光測量，膜性測量，

顏色測量以及膜厚測量等。

特點：

1、CIE顏色測定：X Y色度圖，x，y，L,a,b，飽和度，主波長等；

2、檢測時間微毫秒級：高性能探測器，可在1秒時間內完成重現(xiàn)性高的測定；

3、多角度測量：可自由設定多角度 透反射率測量；

4、膜厚測量：可根據(jù)光譜曲線帶入材料折射率計算出單多次膜厚。

技術規(guī)格：

波長：380~1100nm

誤差 lt;0.2%（400~1000nm）

單次測量：＜1秒

信噪比：1000:1

波長分辨率：1nm

角度分辨率：0.0002°

操作方式：全自動

重復定位精度 lt;0.005°

旋轉 速度：25°/s

透射測量角度：0~80°（小樣品0-50°）

反射測量角度：5~80°

S/P光測量：支持

光斑：Φ2-Φ5mm可調

外觀尺寸：620*420*370mm

光源：穩(wěn)壓電源，風冷1"可聚焦收集棱鏡, UV保護鍍鋁反射鏡；尺寸：260mmX 100mm X 200mm；輸入電壓：220 VAC；輸入頻率：50Hz；工作范圍：0 to 50 °C；類型：恒定直流電流；直流電壓：12V； 電流 ：12.5A；功率輸入：100w；色溫：3200K

樣品尺寸：5x5 mm～100x100mm

軟件：SpecSetup光譜分析軟件1套(可任意任意段波長計算出平均透過率；可任意波段內定其上下限自動判斷產品是否合格；可按CIE標準色度計算出x、y、L、a、b值等，開放式數(shù)據(jù)庫、可任意添加用戶需求的產品數(shù)據(jù)、可根據(jù)光譜曲線帶入材料折射率計算出單多次膜厚，可按用戶要求定制報表。)