CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀價(jià)
一、CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀用途與特點(diǎn):
CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀是專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。
CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì),以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格,操作簡(jiǎn)便,檢查對(duì)比直觀、效率高,是目前切實(shí)可行、并能保證檢查質(zhì)量的方法,是相關(guān)理化試驗(yàn)室的儀器。
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì),以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便,檢查對(duì)比直觀,效率高。
二、CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀主要技術(shù)參數(shù):
1. 放大倍數(shù):50×;
2. 投影屏尺寸:ф200mm;
3. 工作臺(tái)位移:縱向±10mm,橫向±10mm,升降±12mm(無刻度);
4. 工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍:0~360о(無刻度);
5. 光源:鹵鎢燈12V 100W;
6. 電源:200V 50HZ 150W;
7. 外形尺寸:515×224×603mm;
8. 重量: 約18kg。
CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀價(jià)
CST-50
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