蔡司西格瑪家族
蔡司SIGMA FE-SEM用于高質量成像和高級分析顯微鏡
蔡司Sigma 300具有**的價格和性能。借助ZEISS Sigma 500一*的EDS幾何結構，可以快速，方便地完成元素分析。依靠精確，可重復的結果–每次都能從任何樣品中獲得結果。
靈活的檢測4步驟工作流程，高級分析
將場發(fā)射SEM(FE-SEM)技術與分析相結合。受益于久經考驗的雙子座電子光學器件。從多種檢測器選項中進行選擇：材料科學中的圖像顆粒，表面和納米結構，研究半導體或醫(yī)療設備，地質或生物樣品。Sigma的半自動4步工作流程可節(jié)省時間：結構化成像和分析程序并提高生產率。研究和工業(yè)實驗室中所有學科的FE-SEM用戶現在都受益于ZEISS Sigma 500在1 kV下1.3 nm的分辨率和更好的可用性。
靈活檢測清晰圖像
使用*新的檢測技術根據您的需求定制Sigma，并對所有樣品進行表征。
使用環(huán)形背向散射檢測器(aBSD)表征成分，晶體學和表面形貌。在所有真空條件下，它都能提供出色的低kV圖像。受益于更高的靈敏度，更高的信噪比和更快的速度。
享受新一代的二次電子(SE)檢測器。在可變壓力模式下受益于Sigma的C2D和VPSE檢測器：在低真空下工作，您可以得到清晰的圖像，對比度*高可提高85%。
自動化并加快工作流程
4個步驟的工作流程使您可以控制Sigma的所有功能。受益于快速的成像時間并節(jié)省了培訓時間-尤其是在多用戶環(huán)境中。
首先，瀏覽樣品，然后設置*佳成像條件。
接下來，利用感興趣區(qū)域(ROI)自動獲取多個樣本中的圖像。最后，使用工作流程的步對結果進行上下文可視化。
最后，SmartSEM Touch收集并以交互式地圖的形式顯示您的數據，以便您可以理解樣品。
執(zhí)行高級分析顯微鏡
結合掃描電子顯微鏡和元素分析：Sigma一*的EDS幾何形狀可提高您的分析效率，尤其是在對光束敏感的樣品上。
以一半的探針電流和兩倍的速度獲得分析數據。
在您的FE-SEM中實現完整，無陰影的分析。使用8.5 mm的短分析工作距離和35°的起飛角，可從中獲利。
基于成熟的雙子座技術
Gemini物鏡的設計結合了靜電和磁場，以*大限度地提高光學性能，同時將對樣品的電場影響降至*低。即使在具有挑戰(zhàn)性的樣品(例如磁性材料)上，也可以實現出色的成像。
Gemini Inlens檢測概念可通過檢測二次(SE)和/或背向散射(BSE)電子來*大程度地縮短成像時間，從而確保有效的信號檢測。
Gemini光束增強器技術可確保探頭尺寸小和信噪比高。
靈活檢測清晰圖像
使用的檢測技術表征所有樣品。
使用ETSE和Inlens檢測器獲得高真空模式的地形，高分辨率信息。
使用VPSE或C2D檢測器在可變壓力模式下獲得清晰的圖像。
使用aSTEM檢測器產生高分辨率的透射圖像。
使用aBSD檢測器研究成分和形貌。
借助新的自動擺動功能，輕松快速地對準光圈。
SmartEDX
發(fā)現嵌入式能量色散X射線光譜分析
如果僅憑SEM成像不足以了解您的樣品，則可以使用嵌入式EDS在SEM中進行微分析。使用針對低壓應用優(yōu)化的解決方案來獲取空間解析的元素化學信息。
氮化硅窗口具有出色的透射率，可優(yōu)化常規(guī)微分析應用并檢測輕元素的低能X射線
工作流引導的圖形用戶界面提高了多用戶環(huán)境中的易用性和可重復性
蔡司工程師提供的全面服務和系統支持為您提供一站式安裝，預防性維護和保修服務
拉曼成像和掃描電子顯微鏡
全面集成RISE的好處
補充材料的表征并添加拉曼光譜成像。從樣品中獲得化學指紋，并通過共焦拉曼成像功能擴展蔡司Sigma 300。
識別分子和晶體學信息
進行3D分析并將SEM成像與拉曼映射和EDS數據關聯起來(如果適用)
集成的RISE使您可以利用一*的SEM和拉曼系統
