產(chǎn)品概述
ATP5104是奧譜天成針對紫外光譜，特別研制的高性能紫外增強型微型光纖光譜儀，它采用3072像素的紫外增敏線性CCD，可以適應165-1100nm波長范圍的測試，CCD檢測器曝光時間可以控制在1ms之內(nèi)，同時，奧譜天成為ATP5104特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業(yè)界水平，可以幫助您可以獲得的光譜信噪比。
ATP5104是紫外、可見、近紅外光譜應用的理想選擇，有不同的狹縫、光柵、反射鏡、濾光片可以選擇，可以根據(jù)您的需求，配置適合不同應用場合的光譜儀，光譜范圍從165nm起至1050nm，光譜分辨率可在0.5到4.0nm之間選擇，奧譜天成也可為OEM客戶提供定制選擇。
ATP5104可以接收SMA905接口光纖輸入或者自由空間輸入的待測光，根據(jù)設定的積分時間進行測量，將測量結(jié)果通過USB2.0（高速）或者UART輸出；
特點：
紫外增強高性能背照式CCD
專門針對紫外優(yōu)化的光路和結(jié)構；
探測器：背照式CCD
探測器像素：3072
超低噪聲CCD信號處理電路
光譜范圍: 165-1100 nm
光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)
光路結(jié)構：交叉C-T
積分時間：2ms-130s
供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A
18 bit, 570KHz A/DConverter
光輸入接口：SMA905或自由空間
數(shù)據(jù)輸出接口: USB2.0(High speed)或UART
20針雙排可編程外擴接口
典型應用：
拉曼光譜儀
微量、快速分光光度計；
光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析
透過率、吸光度檢測；
反射率檢測；
紫外、可見和短波近紅外
波長檢測
