產(chǎn)品介紹:
CY/P-B3不銹鋼鍍鉻三點(diǎn)式試塊:符合 JB/T 6064-2006及JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)(B3)
用于各靈敏度級(jí)別著色,熒光滲透探傷的質(zhì)量控制。
CY/P-B5 不銹鋼鍍鉻五點(diǎn)式試塊:符合JB/T6064-2006標(biāo)準(zhǔn)(B5),主要用于高靈敏度
及超高靈敏度級(jí)別熒光探傷線的質(zhì)量控制。
CY/P-B6不銹鋼鍍鉻六點(diǎn)式試塊:在同一塊試塊上制作2組基本對(duì)稱的大、中、小輻射裂
紋,裂紋分布符合JB/T 6064-2006及JB/T4730-2005,可代替鋁合金對(duì)比試塊用。