LY-DR320 固體粉末漫反射率測(cè)量系統(tǒng)

本系統(tǒng)采用波長(zhǎng)連續(xù)可調(diào)單色光源和積分球整合而成，測(cè)試光為垂直光路，樣品盛放裝置為小型抽屜式樣品盒，方便放置粉末類(lèi)樣品，易于替換。

技術(shù)規(guī)格：

■ 光譜測(cè)量范圍：350-2500nm

■ 光譜分辨率：≤2nm

■ 光譜掃描步距：0.2-10nm可連續(xù)設(shè)置

■ 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：優(yōu)于±0.2nm（紫外-可見(jiàn)區(qū)），優(yōu)于±0.5nm（近紅外區(qū)）

■ 測(cè)量誤差：≤1%（紫外-可見(jiàn)區(qū)），≤2%（近紅外區(qū)）

■ 重復(fù)性：≤1%

■ 測(cè)試光軸與試樣夾角：不大于10°

■ 樣品尺寸(典型)：≤ ?10(D) *3(H)(mm)

LY-DR150 平面材料漫反射率與透射率測(cè)量系統(tǒng)

本系統(tǒng)結(jié)構(gòu)與LY-DR320相同，但測(cè)試光為由下至上8 度角聚焦光路，樣品盛放裝置為160x160mm平臺(tái)，方便放置各類(lèi)平面材料，如各類(lèi)功能性布料。同時(shí)，系統(tǒng)整合透過(guò)率測(cè)量探測(cè)器，可測(cè)量厚度為5mm以下的各類(lèi)透光材料，可將各類(lèi)透光器件的漫反射率與透過(guò)率測(cè)量整合成一體。

技術(shù)規(guī)格：

■ 光譜測(cè)量范圍：350-2500nm

■ 光譜分辨率：≤2nm

■ 光譜掃描步距：0.2-10nm可連續(xù)設(shè)置

■ 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：優(yōu)于±0.2nm（紫外-可見(jiàn)區(qū)），優(yōu)于±0.5nm（近紅外區(qū)）

■ 測(cè)量誤差：≤1%（紫外-可見(jiàn)區(qū)），≤2%（近紅外區(qū)）

■ 重復(fù)性：≤1% (450nm-1800nm)

■ 樣品尺寸(典型)：直徑≥15mm，若同時(shí)測(cè)試透過(guò)率，則樣品厚度須＜5mm

除了漫反射測(cè)量系統(tǒng)，我司還提供濾光片、光學(xué)鏡頭透過(guò)率測(cè)量系統(tǒng)等。