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半導體芯片HAST測試
HAST高加速壽命試驗箱是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。相對于傳統(tǒng)的高溫高濕測試，HAST增加了容器內(nèi)的壓力，使得可以實現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果。
用于評估非氣密性封裝IC器件、金屬材料等在濕度環(huán)境下的可靠性。該試驗檢查芯片長期貯存條件下，高溫和時間對器件的影響。本設(shè)備適用于量產(chǎn)芯片驗證測試階段的HAST測試需求，僅針對非密封封裝(塑料封裝)，帶偏置(bHAST)和不帶偏置(uHAST)的測試。
半導體芯片HAST測試
標準設(shè)計更安全，內(nèi)膽圓弧設(shè)計防止結(jié)露滴水，符合國家安全容器規(guī)范
多重保護功能，兩道高溫保護裝置、濕度用水斷水保護、超壓保護
穩(wěn)定性更高:內(nèi)置自研PID控制算法，確保溫度、濕度以及壓力值準確度
濕度自由選擇:飽和與非飽和自由設(shè)定
智能化高:USB數(shù)據(jù)、曲線導出保存
標準設(shè)計更安全，內(nèi)膽圓弧設(shè)計防止結(jié)露滴水，符合國家安全容器規(guī)范
多重保護功能，兩道高溫保護裝置、濕度用水斷水保護、超壓保護
穩(wěn)定性更高:內(nèi)置自研PID控制算法，確保溫度、濕度以及壓力值準確度
濕度自由選擇:飽和與非飽和自由設(shè)定
智能化高:USB數(shù)據(jù)、曲線導出保存
