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無(wú)損測(cè)厚儀廠家生產(chǎn)

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公司名稱深圳市鼎極天電子有限公司
品牌
型號(hào)
所在地深圳市
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2024/7/27 19:31:42
訪問(wèn)次數(shù)139

產(chǎn)品標(biāo)簽:

無(wú)損測(cè)厚儀無(wú)損測(cè)厚儀廠家無(wú)損測(cè)厚儀價(jià)格無(wú)損測(cè)厚儀報(bào)價(jià)

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深圳市鼎極天電子有限公司是OXFORD(牛津儀器)CMI測(cè)厚儀*的中國(guó)大陸較大銷售代理商,維修服務(wù)屬于OXFORD(牛津儀器)，是中國(guó)大陸*的*一家能從事大型X-RAY:CMI900的維修服務(wù)商，專業(yè)從事 CMI 產(chǎn)品在中國(guó)銷售/維修業(yè)務(wù)，擁有10多年的代理銷售、服務(wù)經(jīng)驗(yàn)和上百家客戶。公司在2007年獲得英國(guó)牛津公司頒發(fā)的亞洲區(qū)CMI900銷售獲杯，09年度、10年度獲得牛津公司的優(yōu)秀代理商稱號(hào)。公司擁有國(guó)內(nèi)*的銷售工程師及*的維修工程師，備有充足的零件庫(kù)存；保證了在提供*產(chǎn)品的同時(shí) ，為廣大客戶提供Z佳，Z及時(shí)的售前/售后服務(wù).我司代理銷售的產(chǎn)品為：CMI900 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀X-stata980 X射線熒光鍍層測(cè)厚及ROHS分析儀CMI700 PCB面銅/孔銅厚測(cè)量?jī)xCMI500 便攜式線路板孔銅測(cè)厚儀CMI165 手持式表面銅測(cè)厚儀CMI233 手持式涂層測(cè)厚儀CMI243 手持式涂層測(cè)厚儀CMI150 兩用型涂層測(cè)厚儀CM95 銅箔測(cè)厚儀維修服務(wù)的產(chǎn)品：CMI900 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀X-stata980 X射線熒光鍍層測(cè)厚

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鍍層測(cè)厚儀,X-Ray測(cè)厚儀,鍍金測(cè)厚儀,金厚測(cè)試儀,電鍍膜厚儀,X光膜厚儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

無(wú)損測(cè)厚儀廠家生產(chǎn)無(wú)損測(cè)厚儀，又叫膜厚計(jì)、膜厚測(cè)試儀，分為磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。

無(wú)損測(cè)厚儀廠家生產(chǎn) 產(chǎn)品信息

無(wú)損測(cè)厚儀廠家生產(chǎn)無(wú)損測(cè)厚儀簡(jiǎn)介
又叫膜厚計(jì)、膜厚測(cè)試儀，分為磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。
　　
無(wú)損測(cè)厚儀廠家生產(chǎn)無(wú)損測(cè)厚儀磁感應(yīng)測(cè)量原理
　　采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，磁感應(yīng)膜厚儀
　　來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)精確測(cè)量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
　　無(wú)損測(cè)厚儀電渦流測(cè)量原理
　　高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適
　　無(wú)損測(cè)厚儀X射線衍射裝置
　　簡(jiǎn)單地說(shuō)螢光X射線裝置（XRF）和X射線衍射裝置（XRD）有何不同,螢光X射線裝置（XRF）能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置（XRD）能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。具體地說(shuō),比如用不同的裝置測(cè)定食鹽（=NaCl）時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉（Na）和氯（Cl）構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由（NaCl）的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置（XRD為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置（XRD）就很難判定,必須先用螢光X射線裝置（XRF）得到元素信息后才能進(jìn)行定性。膜厚儀也叫X射線測(cè)厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。