半導(dǎo)體高低溫試驗(yàn)箱規(guī)格參數(shù):
型號(hào) | DR-H201-80 | DR-H201-150 | DR-H201-225 | DR-H201-408 | DR-H201-800 |
內(nèi)箱尺寸W×H×D(cm) | 40×50×40 | 50×60×50 | 50×75×60 | 60×85×80 | 100×100×80 |
外箱尺寸W×H×D(cm)約 | 110×136×71 | 117×146×85 | 117×166×91 | 140×176×101 | 170×186×111 |
內(nèi)箱容積(L) | 80 | 150 | 225 | 408 | 800 |
溫度范圍 | A:-20℃~150℃ B: -40℃~150℃ C: -60℃~150℃ D: -70℃~150℃ | ||||
濕度范圍 | 20%~98%RH(10%~98%RH/5%~98%RH) | ||||
溫濕度分布精度 | 2.0℃,3.0%RH | ||||
溫濕度控制精度 | ±0.3℃;±2.5%RH | ||||
升溫/降溫時(shí)間 | 約3.0℃/分鐘;約1.0℃/分鐘 | ||||
保溫材質(zhì) | 耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料 | ||||
冷卻系統(tǒng) | 氣冷式/單段壓縮機(jī)(-40℃) 氣冷式/雙段壓縮機(jī)(-40℃~-70℃) | ||||
保護(hù)裝置 | 無(wú)熔絲開(kāi)關(guān)、(壓縮機(jī)過(guò)載/冷媒高低壓/超濕超溫)保護(hù)開(kāi)關(guān)、保險(xiǎn)絲故障警告系統(tǒng) | ||||
配件 | 記錄器(選購(gòu))、觀視窗、50mm測(cè)試孔、PL箱內(nèi)燈、隔板、干濕球紗布 | ||||
電源 | 1φ 220V AC±10% 50/60Hz / 3φ 380V AC±10% 50/60Hz |
半導(dǎo)體高低溫試驗(yàn)箱:嚴(yán)格遵循國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試能力
高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱和高低溫測(cè)試試驗(yàn)箱均嚴(yán)格遵循一系列國(guó)際和國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn),確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。這些標(biāo)準(zhǔn)包括但不限于:
GJB150.3 高溫試驗(yàn)
GJB150.4 低溫試驗(yàn)
GJB150.9 濕熱試驗(yàn)
GB/T2423.22 溫度變化試驗(yàn)
GB/T2423.3-93 濕熱試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗(yàn)方法
GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
確保產(chǎn)品可靠性:通過(guò)模擬惡劣的溫度條件,高低溫試驗(yàn)箱可以評(píng)估電子產(chǎn)品在高溫或低溫環(huán)境中的穩(wěn)定性和可靠性,確保產(chǎn)品在實(shí)際使用中能夠正常工作。
質(zhì)量控制:高低溫試驗(yàn)箱是質(zhì)量控制的重要組成部分,通過(guò)測(cè)試可以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、材料選擇或制造過(guò)程中可能存在的潛在問(wèn)題,從而及時(shí)進(jìn)行改進(jìn),提高產(chǎn)品質(zhì)量。
環(huán)境適應(yīng)性設(shè)計(jì)驗(yàn)證:在產(chǎn)品的研發(fā)階段,高低溫試驗(yàn)箱用于驗(yàn)證產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性設(shè)計(jì),確保產(chǎn)品能夠在預(yù)期的環(huán)境條件下正常運(yùn)行。
符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):許多行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),如IEC 60068、MIL-STD-810G等,要求電子產(chǎn)品在上市前必須通過(guò)特定的高低溫測(cè)試,以證明其符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
壽命預(yù)測(cè)和缺陷識(shí)別:通過(guò)高低溫循環(huán)測(cè)試,可以預(yù)測(cè)產(chǎn)品的預(yù)期壽命,識(shí)別產(chǎn)品中的潛在問(wèn)題和缺陷,從而進(jìn)行質(zhì)量改進(jìn)。
提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力:在市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)激烈的環(huán)境下,通過(guò)高低溫測(cè)試的產(chǎn)品能夠提高其市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力,因?yàn)檫@些產(chǎn)品已經(jīng)被證明能夠在各種環(huán)境下保持性能和可靠性。
降低售后服務(wù)成本:通過(guò)高低溫測(cè)試,可以減少產(chǎn)品因環(huán)境適應(yīng)性問(wèn)題導(dǎo)致的故障率,從而降低售后服務(wù)的成本。
支持研發(fā)和創(chuàng)新:高低溫試驗(yàn)箱為電子產(chǎn)品的研發(fā)提供了重要的測(cè)試支持,幫助研發(fā)人員了解產(chǎn)品在不同溫度條件下的性能表現(xiàn),從而推動(dòng)產(chǎn)品的創(chuàng)新和改進(jìn)
高溫試驗(yàn):模擬產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的適應(yīng)性,測(cè)試產(chǎn)品在高溫條件下的性能和穩(wěn)定性。參考標(biāo)準(zhǔn)包括GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2等。
低溫試驗(yàn):模擬產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的適應(yīng)性,測(cè)試產(chǎn)品在低溫條件下的性能和穩(wěn)定性。參考標(biāo)準(zhǔn)包括GB/T 2423.1、IEC 60068-2-1等。
溫度沖擊試驗(yàn):也稱為溫度循環(huán)試驗(yàn)或快速溫變?cè)囼?yàn),模擬產(chǎn)品在溫度急劇變化環(huán)境下的適應(yīng)性。測(cè)試產(chǎn)品在高溫和低溫之間快速轉(zhuǎn)換的耐受能力。參考標(biāo)準(zhǔn)包括IEC60068-2-14、GB2423.22等。
濕熱試驗(yàn):模擬產(chǎn)品在高溫高濕環(huán)境下的適應(yīng)性,測(cè)試產(chǎn)品在濕熱條件下的性能和穩(wěn)定性。包括恒定濕熱試驗(yàn)和交變濕熱試驗(yàn)兩種模式。
高低溫交變?cè)囼?yàn):在高低溫之間進(jìn)行循環(huán)測(cè)試,模擬產(chǎn)品在溫度變化環(huán)境下的適應(yīng)性。這種模式可以一次性將需要做的高溫、低溫以及所需做的溫度的時(shí)間設(shè)定在儀表參數(shù)內(nèi),試驗(yàn)箱會(huì)按照設(shè)定走程序。
能效測(cè)試:評(píng)估高低溫試驗(yàn)箱自身的能源效率,按照GB/T 33861-2017標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試.