TSD-80F-3P可程式三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制;
全程數(shù)據(jù)記錄儀(可選功能)可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過(guò)程的全程記錄和追溯;
每臺(tái)電機(jī)均配置過(guò)流(過(guò)熱)保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù),確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性;
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能,使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿(mǎn)足客戶(hù)的多種需要;
采用國(guó)際流行的制冷控制模式,可以自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用國(guó)際產(chǎn)品,使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證;
TSD-80F-3P可程式三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備
冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)
采用全自動(dòng)PID控制精度高且可省電30%,
二箱設(shè)備區(qū)分為:高溫區(qū)、低溫區(qū)二部分,測(cè)試產(chǎn)品置于提籃中, 沖擊時(shí)提籃將測(cè)試產(chǎn)品移進(jìn)高溫區(qū)或低溫區(qū)進(jìn)行衡擊,測(cè)試產(chǎn)品為動(dòng)態(tài)式,帶開(kāi)門(mén)安全系統(tǒng)。
采用觸控式圖控操作接口,操作筒易。
沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū),做冷熱沖擊測(cè)試。
高溫沖擊或低溫沖擊時(shí),時(shí)間可達(dá)999H,循環(huán)周期可達(dá)9999次。
系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)衙擎或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二冷熱沖啟始。
冷卻采二元冷凍系統(tǒng),降溫效果快速。
吊籃轉(zhuǎn)換時(shí)間: 10秒以?xún)?nèi)(其他要求商定)