便攜式磁感應鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。
磁感應測量原理
采用磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，磁感應膜厚儀
來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達一個數(shù)量級）。現(xiàn)代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。磁性原理測厚儀可應用來精確測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
便攜式磁感應鍍層測厚儀批發(fā)價格優(yōu)勢：
耐腐蝕性
驗證所用涂料的厚度和化學性，以確保在惡劣環(huán)境中的產(chǎn)品功能和壽命。小的緊固件或大組件都可輕松處理。
耐磨性
防止產(chǎn)品故障，確保在磨料環(huán)境中的關鍵部件的涂層厚度和均勻性。復雜的形狀，薄或厚的涂層和成品都可以測量。
精飾電鍍
當目標是實現(xiàn)一個*的電鍍時，整個生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制是至關重要的。牛津儀器全系列檢測設備，讓您放心檢驗基材，測試中間和頂部鍍層。
耐高溫
在的條件下操作的表面處理必須控制在嚴格的公差范圍內(nèi)。確保鍍層符合規(guī)格，避免產(chǎn)品召回和潛在的災難性故障。
便攜式磁感應鍍層測厚儀批發(fā)價格運用領域行業(yè)：
電子行業(yè)
電子、電氣原件
有效控制生產(chǎn)過程，提高生產(chǎn)力
確保元件可靠性
同時測量焊料合金成份和鍍層厚度
優(yōu)化質(zhì)量控制，確保產(chǎn)品生命期
便攜式磁感應鍍層測厚儀批發(fā)價格儀器參數(shù)
| 型號 | MAXXI 5 | MAXXI 5 PIN | 備注 |
| 測量元素范圍 | Ti22---U92 |
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| 鍍層和成分分析 | Ø 鍍層：zui多同時測定5層（4層鍍層+基體材料） Ø 成分：zui多同時測量20種元素 |
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| 測量方法 | Ø FP（經(jīng)驗數(shù)據(jù)法），無需標準樣片 |
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| X射線激發(fā) | Ø 50Kv、1.2mA(60W)高壓發(fā)生器 Ø 微聚焦W靶X射線管 |
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| 成像系統(tǒng) | Ø 彩色視頻系統(tǒng) Ø 20倍放大倍數(shù) Ø 被測樣品圖像實時顯示功能 Ø 電腦顯示屏具有畫中畫功能 |
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| 計算機系統(tǒng) | Ø Inter Pentium G2030，內(nèi)存2G，硬盤500G Ø 17吋液晶彩色顯示器 Ø MicrosoftTM Win7 32bit |
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| 樣品臺規(guī)格 | Ø X-Y手動樣品臺：600×600mm，zui大承重25Kg，zui大樣品高度175mm或350mm可調(diào) Ø X-Y程控樣品臺：X-Y臺面尺寸300×250mm，zui大承重5Kg，zui大樣品高度180mm，程控距離X=300mm、Y=250mm |
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| 儀器外形 | 長×寬×高700×770×700mm（不含電腦、顯示器） |
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| zui大樣品 | Ø X-Y手動樣品臺：長×寬×高600×500×350mm Ø X-Y程控樣品臺：長×寬×高600×500×180mm |
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| 程控Z軸移動距離 | ≤180mm，可使用鼠標或手柄控制 |
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| 主機重量 | 90Kg（不含電腦、顯示器） |
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| 準直器規(guī)格 | Ø 可選單準直器、多準直器 Ø 多準直器程控交換 Ø 可選園形、矩形準直器 Ø 單準直器任選：Ø0.2、Ø0.3、Ø0.5、0.1×0.3mm Ø 多準直器選項：①Ø0.2、0.06×0.06、0.05×0.15、0.1×0.2mm；②Ø0.1、Ø0.20、0.06×0.06、0.05×0.15mm | Ø 可選單準直器、多準直器 Ø 多準直器程控交換 Ø 可選園形、矩形準直器 Ø 單準直器任選：Ø0.3、Ø0.4、Ø0.5、0.2×0.5mm Ø 多準直器：Ø0.3、Ø0.5、0.1×0.7、0.2×0.7mm |
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| 探測器 | 正比例計數(shù)器 | 25mm2半導體（Si-PIN）探測器，Peltier電制冷 |
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| 軟件模塊可選 | μ-Master用于鍍層測量 Element--Master用于材料分析 %-Master用于材料分析（珠寶） Report-Master用于微軟報告文件 Data-Master用于數(shù)據(jù)庫管理 Liquid-Master用于電鍍液分析 |
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| 產(chǎn)地 | 德國 | ||
功能：
測量時，連續(xù)顯示/更新平均、標準偏差、讀數(shù)數(shù)目
內(nèi)存可存儲100組、10,000 個讀數(shù)
內(nèi)置時鐘可更新存儲數(shù)據(jù)，并給每個數(shù)據(jù)附上測量時間。
USB, IR 和系列輸出選項，可用于與打印機和電腦簡單連接。
背光顯示，可在黑暗環(huán)境中使用。
密耳和微米之間轉(zhuǎn)換
可選擇多種語言: 英語、西班牙語、法語、德語、葡萄牙語、中文、日語、挪威語、俄語、捷克斯洛法克語、意大利語
