武漢蒸氣老化試驗(yàn)箱廠家
適用于子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片阻容、零組件產(chǎn)業(yè)、子零組件金屬等材料進(jìn)行老化加速壽命試驗(yàn)
標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)：
產(chǎn)品型號(hào)：GT-ZQ-34
內(nèi)部尺寸：50X40X17 CM （W*H*D）
外部尺寸：60X50X42 CM （W*H*D）
溫度范圍：Upto97℃
控制器：PID微腦控制
加熱方式：PID+SSR
升溫時(shí)間：約45分鐘
計(jì)時(shí)器：9999分
壓：220V
熱（KW）：2
武漢蒸氣老化試驗(yàn)箱廠家 是測(cè)試產(chǎn)品在高溫水蒸氣環(huán)境下產(chǎn)品所受到的影響情況，以加速老化的方式來(lái)測(cè)試產(chǎn)品的耐久性能。蒸汽老化試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)、電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn)；半導(dǎo)體、被動(dòng)組件、零件接腳氧化試驗(yàn)。微電腦溫度控制器、LED數(shù)字顯示，PID+SSR控制，白金電阻溫度傳感器（PT100），解析度0.1℃。
