(LQS）電化學(xué)工作站庫(kù)號(hào)：M304979 (LQS）電化學(xué)工作站庫(kù)號(hào)：M304979 (LQS）電化學(xué)工作站庫(kù)號(hào)：M304979 (LQS）電化學(xué)工作站庫(kù)號(hào)：M304979 CS電化學(xué)工作站采用浮地式設(shè)計(jì)，具有出色的穩(wěn)定性和精確度，先進(jìn)的硬件和功能完善的軟件，為涉及能源、材料、生命科學(xué)、環(huán)保等領(lǐng)域的科技工作者提供了的科研平臺(tái)。應(yīng)用領(lǐng)域包括：
（1）電合成、電沉積（電鍍）、陽(yáng)極氧化、
電解等反應(yīng)機(jī)理研究；
（2）電化學(xué)分析研究；
（3）能源材料（鋰離子電池、太陽(yáng)能電池、燃料動(dòng)力電池和級(jí)電容器等）、先進(jìn)功能材料以及傳感器的性能研究；
（4）金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評(píng)價(jià)； 
（5）緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率的快速評(píng)價(jià)。
1.1.硬件特點(diǎn)
?雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /24bit AD轉(zhuǎn)換器
?內(nèi)置FRA頻響分析儀，頻率范圍 10Hz ~1MHz
?高帶寬高輸入阻抗的放大器
?內(nèi)置FPGA DDS信號(hào)合成器
?高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計(jì)
?電壓控制范圍：10V，槽壓為21V（可擴(kuò)展至±200V）
?電流控制范圍：2.0A（可擴(kuò)展至20.0A）
?電位分辨率：10V，電流分辨率：1pA（可延伸至100fA）

1.2.軟件特點(diǎn)
?數(shù)據(jù)分析
伏安曲線的平滑、積分和微分運(yùn)算，計(jì)算各氧化還原峰的峰高、峰面積和峰電位等；
極化曲線的三參數(shù)或四參數(shù)動(dòng)力學(xué)解析，計(jì)算Tafel斜率ba，bc，腐蝕電流密度icorr，極限擴(kuò)散電流、極化電阻Rp和腐蝕速率等，還可由電化學(xué)噪聲譜計(jì)算功率譜密度、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。
?實(shí)時(shí)存儲(chǔ)
CorrTest實(shí)時(shí)存儲(chǔ)測(cè)量數(shù)據(jù)，即使因斷電導(dǎo)致測(cè)試中斷，中斷之前的數(shù)據(jù)也會(huì)自動(dòng)保存。
?定時(shí)測(cè)量
CorrTest測(cè)試軟件具有定時(shí)測(cè)量功能， 對(duì)于某些需要研究體系隨時(shí)間變化特征時(shí)，可提前設(shè)好測(cè)試參數(shù)與間隔時(shí)間，讓儀器在無(wú)人值守下自動(dòng)定時(shí)測(cè)量，提高實(shí)驗(yàn)效率。
1.3.技術(shù)
?交流阻抗
儀器采用相關(guān)積分算法和雙通道同步過(guò)采樣技術(shù)，具有較強(qiáng)的抗干擾能力，尤其適合于涂層、混凝土等高阻體系（>109）的交流阻抗測(cè)量，也可用于Mott-Schottky 曲線和微分電容曲線繪制。軟件能實(shí)時(shí)顯示開(kāi)路電位，用戶(hù)無(wú)需輸入，即可輸出準(zhǔn)確的極化過(guò)電位。
?極化曲線
具有線性極化和Tafel極化曲線測(cè)量功能，用戶(hù)可設(shè)定循環(huán)極化曲線的陽(yáng)極回掃電流（鈍化膜擊穿電流），來(lái)確定材料的點(diǎn)蝕電位和保護(hù)電位，評(píng)價(jià)晶間腐蝕敏感性。軟件采用非線性擬合算法解析極化曲線，可用于材料耐蝕性和緩蝕劑性能的快速評(píng)價(jià)。

?伏安分析
能完成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯伏安（SCV）、方波伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）、交流伏安（ACV）、溶出伏安等多種電分析方法，集成峰面積、峰電流計(jì)算和標(biāo)準(zhǔn)曲線分析功能。


?電化學(xué)噪聲
采用高阻跟隨器和零阻電流計(jì)測(cè)量腐蝕體系自發(fā)的電位與電流波動(dòng)，可用于點(diǎn)蝕、電偶腐蝕、縫隙腐蝕和應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂等局部腐蝕研究。通過(guò)噪聲譜分析，可評(píng)估亞穩(wěn)態(tài)蝕點(diǎn)或裂紋的誘導(dǎo)、生長(zhǎng)和死亡過(guò)程。基于噪聲電阻和點(diǎn)蝕指數(shù)計(jì)算，也可用于局部腐蝕監(jiān)測(cè)。
?功率擴(kuò)展
CS系列電化學(xué)工作站的電流控制范圍為±2.0A，槽壓輸出≥21V，可滿(mǎn)足燃料動(dòng)力電池、大功率電池充放電、電化學(xué)電解或電沉積等領(lǐng)域的需求。采用的功率擴(kuò)展器，大輸出電流可達(dá)±20.0A，槽壓±200V。
?浮地測(cè)量
CS系列電化學(xué)工作站采用浮地式工作電極，可用于工作電極本身接地體系的電化學(xué)研究，如用于高壓釜電化學(xué)測(cè)試（釜體接地），大地中金屬構(gòu)件（橋梁、混凝土鋼筋）的在線腐蝕研究等。
?光電測(cè)試模塊
CS電化學(xué)工作站可以與光強(qiáng)計(jì)、光譜儀聯(lián)用，用于光電化學(xué)測(cè)量，在進(jìn)行電化學(xué)測(cè)量的同時(shí)記錄光電流或光譜響應(yīng)信號(hào)。
?自定義方法
支持用戶(hù)自定義組合測(cè)量，用戶(hù)可以設(shè)定定時(shí)循環(huán)進(jìn)行某一測(cè)試方法或多種方法的組合測(cè)試，用于無(wú)人值守下的定時(shí)自動(dòng)測(cè)量；
提供API通用接口函數(shù)和開(kāi)發(fā)實(shí)例，方便用戶(hù)二次開(kāi)發(fā)和自定義測(cè)試方法；
提供用戶(hù)自定義腳本編寫(xiě)范例，用于實(shí)現(xiàn)您*的電化學(xué)實(shí)驗(yàn)技術(shù)。
?儀器配置

1）儀器主機(jī)1臺(tái)
2）CorrTest測(cè)試與分析軟件1套
3）電解池（含鹽橋和排氣管）1套
4）輔助、參比、工作電極各1支 
5）模擬電解池1個(gè)
6）電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
7）電極電纜線1條
8）電極架（選配 *）
9）屏蔽箱（選配 *）
10）電（選配 *）
?儀器展示


圖. 微機(jī)控制的CorrTest® 電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)及電解池/電極架

?技術(shù)指標(biāo)與功能方法
表1. 硬件參數(shù)指標(biāo)
恒電位控制范圍：±10V 恒電流控制范圍：±2.0A
電位控制精度：0.1%×滿(mǎn)量程讀數(shù)±1mV 電流控制精度：0.1%×滿(mǎn)量程讀數(shù)
電位靈敏度：10V(>100Hz), 3V(<10Hz) 電流靈敏度：<1pA
電位上升時(shí)間：﹤1S(<10mA),<10S(<2A) 電流量程：2A～2nA, 共10檔
輸入阻抗：1012||20pF 大輸出電流：2.0A
槽壓輸出：±21V 電流掃描增量：1mA @1A/mS
CV 和LSV掃描速度：0.001mV～10000V/s 電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS
CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s
SWV頻率：0.001～100KHz CV的小電位增量：0.075mV
AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit @1kHz 電流與電位量程：自動(dòng)設(shè)置
DA分辨率：16bit，建立時(shí)間：1S 低通濾波器 ：8段可編程
通訊接口：USB2.0 儀器重量：6.5Kg
外形尺寸（cm）：36.5(W)30.5 (D)16 (H)

表2. 電化學(xué)阻抗測(cè)量指標(biāo)
信號(hào)發(fā)生器
頻率響應(yīng)：10Hz～1MHz 交流信號(hào)幅值：1mV～2500mV 
頻率精確度：0.005% 直流偏壓：-10V～+10V
DDS輸出阻抗：50 波形：正弦波，三角波，方波
正弦波失真率：<1% 掃描方式：對(duì)數(shù)/線性，增加/下降
信號(hào)分辨率：0.1mV RMS
信號(hào)分析器
大積分時(shí)間：106個(gè)循環(huán)或者105S 測(cè)量時(shí)間延遲：0～105秒
小積分時(shí)間：10mS 或者一個(gè)循環(huán)的長(zhǎng)時(shí)間
直流偏置補(bǔ)償
電位補(bǔ)償范圍：-10V～+10V 電流補(bǔ)償范圍：-1A～+1A
帶寬調(diào)整：自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置, 共8級(jí)可調(diào)
功能方法 CS350H 
穩(wěn)態(tài)極化 開(kāi)路電位測(cè)量（OCP）
恒電位極化（i-t曲線）
恒電流極化
動(dòng)電位掃描（TAFEL曲線）
動(dòng)電流掃描（DGP）
暫態(tài)極化 任意恒電位階梯波
任意恒電流階梯波
恒電位階躍（VSTEP）
恒電流階躍（ISTEP）
計(jì)時(shí)分析 計(jì)時(shí)電位法（CP）

計(jì)時(shí)電流法（CA）
計(jì)時(shí)電量法（CC）
伏安分析 線性掃描伏安法（LSV）#
線性循環(huán)伏安法（CV）
階梯循環(huán)伏安法（SCV）#
方波伏安法（SWV）#
差分脈沖伏安法（DPV）#
常規(guī)脈沖伏安法（NPV）#
常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV）#
差分脈沖電流檢測(cè)法（DPA）
雙差分脈沖電流檢測(cè)法（DDPA）
三脈沖電流檢測(cè)法（TPA）
積分脈沖電流檢測(cè)法（IPAD）
交流伏安法（ACV）#
二次諧波交流伏安（SHACV）
傅里葉變換交流伏安（FTACV）
交流阻抗 電化學(xué)阻抗（EIS）～頻率掃描
電化學(xué)阻抗（EIS）～時(shí)間掃描
電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描
腐蝕測(cè)量 動(dòng)電位再活化法（EPR）
電化學(xué)噪聲（EN）
電偶腐蝕測(cè)量（ZRA）
氫擴(kuò)散測(cè)試（HDT）*
電池測(cè)量 電池充放電測(cè)試
恒電流充放電
擴(kuò)展測(cè)量 盤(pán)環(huán)電極測(cè)試 *
數(shù)字記錄儀
控制電位電解庫(kù)侖法（BE）
掃描階躍混合方法（SSF）
波形發(fā)生器
圓盤(pán)電機(jī)控制 集團(tuán)