OSP薄膜測(cè)量?jī)x
ST4080-OSP（有機(jī)可焊性保護(hù)膜）于測(cè)量PCB/PW板的銅鉑表面的OSP厚度。作為使用分光反射法的非破壞性光學(xué)測(cè)量?jī)x，它可提供平均厚度和詳細(xì)的3D平面輪廓資料，使得實(shí)時(shí)檢測(cè)無需任何的樣品制備。
由于ST4080-OSP具有測(cè)量很小面積與自動(dòng)聚焦功能，適用于PCB基板表面的實(shí)模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度測(cè)量技術(shù)，而它在半導(dǎo)體，平板顯示與其他電子材料行業(yè)方面的可靠性得到了證實(shí)。 ST4080-OSP使用反射測(cè)量法提供PCB/PWB表面OSP涂層厚度的非接觸和非破壞性實(shí)時(shí)測(cè)量。
ST4080-OSP 無需樣品制備，可確?？焖俸秃?jiǎn)便操作。
ST4080-OSP測(cè)量的光斑尺寸可減小到0.135，這使得它可測(cè)量表面粗糙的銅的OSP涂層厚度.
ST4080-OSP 與紫外可見分光計(jì)，受迫離子束方法，時(shí)序電化學(xué)還原分析還有其他的測(cè)量方法相比較，它基于更可靠的測(cè)量技術(shù)。
ST4080-OSP 可獲取420nm~640nm范圍內(nèi)的多波長光譜。
ST4080-OSP可提供各點(diǎn)和它們的平均厚度的詳細(xì)數(shù)據(jù)，這樣可幫助人們更好地控制OSP質(zhì)量。
ST4080-OSP 通過3D表面形態(tài)學(xué)將測(cè)量程序*化。
在電路行業(yè)，有機(jī)可焊性保護(hù)膜（OSP）涂層的使用對(duì)保護(hù)銅表面防止氧化是必需的。
關(guān)于RoHS指令，該保護(hù)膜涂層要求無鉛適用，易加工和低成本。它的標(biāo)準(zhǔn)厚度測(cè)量范圍是0.1~0.5μm。
ST4080-OSP 通過分析基板上薄膜表面的反射光和基板表面的反射光之間的光譜干涉來測(cè)量薄膜厚度。ST4080-OSP 同時(shí)測(cè)量多個(gè)光斑，并以輪廓形式顯示厚度測(cè)量結(jié)果。
ST4080-OSP有兩種光學(xué)透鏡。用戶可使用5倍的光學(xué)透鏡方便地進(jìn)入詳細(xì)模式的自選區(qū)域，再通過使用50倍的光學(xué)透鏡獲取詳細(xì)厚度輪廓。：* 深圳市寶安區(qū)寶安大道鹽田商務(wù)廣場(chǎng)A座421室
瑞環(huán)香港有限公司是日本精工*的中國區(qū)代理商主營精工SFT9100/SFT9200/SFT9300/SFT9400系列X射線鍍層測(cè)厚儀，膜厚儀，X-RAY儀歡迎來電咨詢代理銷售及服務(wù)日本精工SFT系列鍍層測(cè)厚儀，元素分析儀（X射線測(cè)厚儀，膜厚儀，熒光X射線儀） SFT9100M/SFT9200/SFT9300/SFT9400/SFT9500精工是*Z早生發(fā)研發(fā)的X射線測(cè)厚儀， SFT9100M技術(shù)參數(shù)如下：測(cè)量金屬膜厚如Au/Ag/Ni/Sn/Zn/Cr等等鍍層單層/雙層/多層 1）全自動(dòng)電動(dòng)樣品臺(tái)（省去手動(dòng)麻煩） 2）雙準(zhǔn)直器（不管樣品多大或多小都能準(zhǔn)確測(cè)量） 3）激光紅點(diǎn)對(duì)位（能隨意確定待測(cè)點(diǎn)位置） 4）Mo靶材微聚焦X射線管，行業(yè)中* SFT是精工系列中比較經(jīng)濟(jì)使用型的機(jī)型，有需要的有友請(qǐng)來電咨詢希望我們能成為*的合作伙伴
精工測(cè)厚儀，鍍層測(cè)厚儀，電鍍鍍層測(cè)量?jī)x
OSP薄膜測(cè)量?jī)x 產(chǎn)品信息
關(guān)鍵詞：光學(xué)測(cè)量?jī)x
