成熟的技術(shù)和可靠性：
30多年來，儀器公司（Micromeritics）的Sedigraph全自動Χ光透射沉降粒度分析儀成為*范圍內(nèi)眾多實(shí)驗(yàn)室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)儀器。無論是在嚴(yán)酷的生產(chǎn)環(huán)境還是在良好的實(shí)驗(yàn)室條件下，SediGraph都能異乎尋常地提供可靠、精確的數(shù)據(jù)。粒度分布分析原理采用“沉降原理”。顆粒質(zhì)量直接由Χ射線的吸收得到。通過測定顆粒在液體（已知其物性，如密度、粘度等）中重力作用下的沉降速率， 由“斯托克絲”（Stokes’）定律確定300～0.1微米等球顆粒的直徑。

智能化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)：
即使在不同的地域，先進(jìn)的SediGraph III 5120確保儀器的數(shù)據(jù)高重現(xiàn)性和儀器易操作性以及易維護(hù)，設(shè)計(jì)的改進(jìn)體現(xiàn)在：
使用比較簡易的泵確?？焖?、簡單的維護(hù)較低的噪音等級提供安靜的工作環(huán)境設(shè)置維護(hù) 提醒器，自動記錄分析次數(shù)，定期提醒用戶進(jìn)行常規(guī)維護(hù)計(jì)算機(jī)控制攪拌室溫度進(jìn)一步提高重復(fù)性和重現(xiàn)性高度靈活和交互式的報告系統(tǒng)為用戶提供更廣泛的數(shù)據(jù)顯示選擇，如顆粒沉降速率和粒徑Φ分布。

SediGraph III 5120 的其它優(yōu)點(diǎn)：
★全程的顆粒測量確保所有樣品顆粒的可測量性，用于0.1微米至300微米顆粒粒徑的分析的分析儀。 
★能夠與其它力粒度分析原理得到的數(shù)據(jù)并將合并將數(shù)據(jù)的報告范圍擴(kuò)展125mm，特別適用于地質(zhì)學(xué)。 
★由沉降室底部到頂部的全程掃描精確測定快速沉淀粒子的數(shù)據(jù)，從而減少分離細(xì)顆粒數(shù)據(jù)的時間。
★全自動的操作提高樣品測試效率的同時，減少操作者的動手操作，從而減少人為誤差。
★溫度控制下的分析過程確保液體性質(zhì)的恒定（粘度、密度等會隨溫度變化而變化），保證數(shù)據(jù)的真實(shí)性。
★實(shí)時在線狀態(tài)顯示使得用戶隨時監(jiān)控累積的顆粒質(zhì)量，必要時可及時調(diào)整分析步驟。
★多種分析速度以備選擇滿足用戶對分析速度和數(shù)據(jù)精度的化要求。
★統(tǒng)計(jì)過程控制報告 （ Statistical Process Control，簡稱SPC）可追蹤執(zhí)行的程序，對測試波動提供及時的響應(yīng)。 
★圖形疊加功能提供單次或多次測試與參 比物測試、與基線測試的直觀比較，例如同一分析數(shù)據(jù)的不同曲線的疊加。
★ 數(shù)據(jù)對比圖提供兩組數(shù)據(jù)的算數(shù)差的對比表（如與參比物的數(shù)據(jù)對比）或超出公差范圍的擴(kuò)展數(shù)據(jù)點(diǎn)的對比。 
★多臺儀器控制允許單臺電腦同時控制兩臺 SediGraph儀器，減少占用寶貴的實(shí)驗(yàn)室空間，方便存儲。

應(yīng)用領(lǐng)域：
陶瓷：每一級別的顆粒度范圍和質(zhì)量分布極大影響著陶瓷粉末的燒結(jié)能力、成型性質(zhì)和成型后的孔分布。因?yàn)榱椒植夹畔椭_定固化和粘結(jié)過程，控制孔結(jié)構(gòu)，保證加工前型體的強(qiáng)度，從而保證獲得理想強(qiáng)度、質(zhì)地、外觀和密度的成品。 
金屬粉末：通過控制粒度可以得到具有及其特殊的孔結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品。孔隙度通常是產(chǎn)品性能的關(guān)鍵。與陶瓷材料類似，粒度分布決定加工前型體的強(qiáng)度和zui終產(chǎn)品的強(qiáng)度和密度。 
地質(zhì)/土壤學(xué)：顆粒尺寸決定土壤的涵水能力、排水速度、儲存養(yǎng)分能力，也直接關(guān)系到土砂 流送。
化妝品：化妝品原料的粒度分布影響著化妝品的外觀、應(yīng)用和包裝，如滑石粉和顏料 
顏料：唯有粒度能夠影響著色強(qiáng)度。隨著著色強(qiáng)度增大，提供所需色度的顏料數(shù)量減少。粒度還影響顏料的覆蓋力。而且粒度分布影響光澤、質(zhì)地、色澤的飽和度和亮度。 
催化劑：粒度影響結(jié)構(gòu)感應(yīng)催化反應(yīng)中的金屬催化活性。 
建筑材料：水泥的粒度影響其固化時間和固化后的強(qiáng)度特征。 
礦物和無機(jī)化合物：材料的反應(yīng)性依賴于材料的暴露表面積，因而依賴于粒度分布。 
研磨劑：研磨顆粒或粉末合適的粒度平衡分布式zui基本的考慮，無論這個材料是否用于漿液、干燥氣流或粘結(jié)的摩擦工具上。均一的粒度確保鼓風(fēng)機(jī)的精確風(fēng)速，是決定研磨材料回收時介質(zhì)處理的關(guān)鍵因素。

SediGraph 的耐久性：
SediGraph 自從1967年引入經(jīng)濟(jì)型儀器后，應(yīng)用到廣泛的工業(yè)領(lǐng)域中，而用戶只要在網(wǎng)絡(luò)上任何的搜索引擎中輸入“SediGraph”即可。這一儀器經(jīng)歷了多次改進(jìn)，如測試速度、樣品處理、數(shù)據(jù)處理和報告等。然而，儀器zui基本的技術(shù)仍然是兩個*的物理現(xiàn)象——沉降和光子吸收。“斯托克絲”（Stokes’）定律通過測定不同粒度的顆粒自由沉降速度來確定粒度。每一粒度下的相對質(zhì)量濃度由 Beer-Lambert-Bouguer 定律確定，通過測定低能 X 光射入部分懸 浮樣品的光吸收。Stokes和Beer-Lambert-Bouguer的簡易法則直接詮釋了原始數(shù)據(jù)，操作人很容易理解測試和粒徑分布報告之間的關(guān)系。所有的實(shí)驗(yàn)參數(shù)容易得到，數(shù)據(jù)處理簡單和快速，沒有必要對某一特定粒徑分布形態(tài)的數(shù)據(jù)處理軟件持有“懷疑”。

“斯托克絲”（Stokes’）定律： 
斯托克絲定律描述了球狀顆粒在流體介質(zhì)中的自由沉降速度與粒徑平方的比例關(guān)系。斯托克絲定律提出了粒徑與沉降速度的嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膶?yīng)關(guān)系，這些變量的相互關(guān)系不會違反這一定律。
應(yīng)用：如果密度較大的多種粒徑的集合體均一分散在密度較小的液體中，顆粒受重力作用沉降，可以精確的預(yù)測給定粒徑下面的所有粒子沉降到給定的液面層下。粒徑分布可以由這些信息中得到。SediGraph技術(shù)的具體描述可以參考ISO ISO 13317－3：2001 重力液體沉降方法確定粒徑分布中的 Part 3：X 光重力技術(shù)。
沉降，X光吸收：
SediGraph 使用一行窄的平行 X 光束直接測定液體中的顆粒濃度。首先測定基線強(qiáng)度，也就是測定射過樣 品室透窗以及樣品室內(nèi)純液體介質(zhì)的 X 光束的強(qiáng)度（稱為參比 X 光束）。然后固體樣品和液體介質(zhì)的均勻 混合物由泵打入樣品室。這是通過測定衰減的 X 光束強(qiáng)度得到滿量程衰減的一個數(shù)值。接著停止攪拌， 粒子開始沉降，此時 X 光強(qiáng)度受到監(jiān)控。在沉降的過程中，zui大的顆粒zui先沉到測試液面層的下方，較細(xì)顆粒也逐漸地沉到測試層下方，直到只有zui細(xì)的顆粒停留在測試層上方的附近區(qū)域。

重復(fù)性是描述同一樣品在一系列測試中得到同一結(jié)果的能力；重現(xiàn)性通常指不同場合下的同一型號的不同儀器得到同一結(jié)果，儀器重要的品質(zhì)是保證每一臺儀器測試得到等效結(jié)果。 一臺具有高精度、好重復(fù)性和重現(xiàn)性、高可靠性和全自動高效率測試的易操作儀器，是理想儀器的縮影。SediGraph在重復(fù)性和重現(xiàn)性方面名聲*，所以在很多工業(yè)領(lǐng)域作為質(zhì)量控制的儀器，這些工業(yè)需要其每個生產(chǎn)地的產(chǎn)品具有*的品質(zhì)。同樣，SediGraph 在精度方面也獲得很高的贊譽(yù)。它直接測定樣品的X光吸收，報告質(zhì)量分布——無需任何的處理模型！許多生產(chǎn)商用SediGraph來校驗(yàn)不同粒徑的基準(zhǔn)物，這些基準(zhǔn)物用來驗(yàn)收其它測試儀器的。
SediGraph III 5120配備了靈活、易使用的用戶界面，提供用戶期望的基于Windows的所有便利特點(diǎn)。這些特點(diǎn)包括指針點(diǎn)擊菜單、研究標(biāo)識所需的用戶熟悉的報告形式、可編輯的曲線、數(shù)據(jù)和表格的剪切和粘貼、數(shù)據(jù)輸出等特點(diǎn)。用戶制定的測試方案幫助安排、啟動 和控制分析過程，確保后續(xù)的分析*按照同一模式進(jìn)行，而不必?fù)?dān)心操作者操作技能。用戶可以收集、組織、存檔和處理原始數(shù)據(jù)，存為標(biāo)準(zhǔn)的樣品的信息和分析條件文件，方便以后的分析。完成的報告可以顯示在屏幕、打印在紙上或者以多種格式保存到存儲設(shè)備上。

數(shù)據(jù)報告
SediGraph III 可以自動生成粒徑范圍在300～0.1μm內(nèi)的分析數(shù)據(jù)。125,000～300μm粒徑范圍內(nèi)采集的數(shù)據(jù)可以與 SediGraph 生成的數(shù)據(jù)結(jié)合，得到125,000～0.1μm 的報告，而0.1μm 的幾分之一的粒徑數(shù)據(jù)也可以報告。 除了表格數(shù)據(jù)，SediGraph 還提供不同類型的曲線數(shù)據(jù)：
累積質(zhì)量、累積面積和累積顆粒數(shù)目 沉降速度分布
程序控制圖表 概率記錄
基線/全量程參比線 頻率分布
對參比物的差分 超極限
Rosin-Rammer 回歸分析

不同樣品的結(jié)果曲線可以疊加，或者同一樣品的不同曲線也可疊加，使得用戶進(jìn)行實(shí)驗(yàn) 數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)物的比較。數(shù)據(jù)圖可以放大或縮小，方便用戶仔細(xì)審查圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)。一種新的數(shù)列添加到表格和曲線的橫坐標(biāo)中，這一數(shù)列以φ粒徑來報告，其中φ＝－log2（毫米粒徑）。 另外，沉降速度的新單位（cm/s）也添加到表格中。曲線中x－軸可以用粒徑或沉降速率。 SediGraph 是一臺直接測定沉降速率的全自動粒徑測試儀。
SPC報告和回歸分析統(tǒng)計(jì)過程控制。（SPC）報告提供簡易方法來連續(xù)監(jiān)控生產(chǎn)過程，減少對偏離標(biāo)準(zhǔn)的響應(yīng)時間?；貧w分析使用戶確定諸如控制參數(shù)與樣品測定值之間的關(guān)系。26 個可選軸變量包括：
平均值 眾數(shù) 中值 尺寸百分率
標(biāo)準(zhǔn)偏差 偏差系數(shù) －Nσ尺寸 ＋Nσ尺寸
偏斜 峰度 比表面積 累積尺寸百分率
超極限百分率 顆粒密度 液體粘度 全量程掃描的泵抽吸速率
MasterTech攪拌時間 液體密度 MasterTech 攪拌速率 MasterTech超聲波鉆探時間
三個用戶界定的外部參數(shù)

可選配件：
MasterTechTM 052全自動進(jìn)樣器確保每次樣品的制備以同一方式進(jìn)行 。
MasterTechTM 052是用來提高分析效率、結(jié)果重復(fù)性和重現(xiàn)性和減少操作者介入的。設(shè)計(jì)多至18個樣品的排序和先后運(yùn)行，*無人介入，包括傳輸?shù)綐悠肥仪叭詣訑嚢杌虺暡〝嚢琛ediGraphIII的操作軟件可以控制 MasterTech 并且將樣品分散信息存為樣品文件以備將來做參比調(diào)用。
MasterTech 具有強(qiáng)大的超聲鉆探使樣品重新分散的功能。探針的能量是可調(diào)節(jié)的，探針的驅(qū)動線路板是自我調(diào)節(jié)來維持穩(wěn)定、高效的超聲波的能量級別。前面板的數(shù)字讀數(shù)使用戶對設(shè)定的能量一幕了然。SediGraph III 5120儀器的上部被設(shè)計(jì)成可放置MasterTech進(jìn)樣器，因而節(jié)約了實(shí)驗(yàn)臺空間。
SediSperse在粒徑研究中，樣品的均勻分散對于獲得高精度和重現(xiàn)性的結(jié)果是至關(guān)重要的。麥克儀器公司（Micromeritics）提供全線的SediSperse分散液，用來zui大化樣品分散度和消除樣品顆粒的聚集。SediSperse分散液共有9種水性和有機(jī)的配方，有效用于多種材料的分散。

SediGraph III 5120 在SediGraph II 5100基礎(chǔ)上的改進(jìn)包括： 

全程的顆粒測量確保所有樣品顆粒的可測量性 
溫度控制下的分析過程確保液體性質(zhì)的恒定，保證數(shù)據(jù)的真實(shí)性 
新增的報告系統(tǒng)包括φ粒徑和沉降速度（cm/s）
可以處理 SediGraph II 5100 的文件
SediGraph III 的操作軟件可以控制 MasterTech 052 
測試樣品大多數(shù)無機(jī)化合物（組成元素分子量必須高于12，鈉以上，鈉在有機(jī)溶劑可以測試，如碳酸鈉）大多數(shù)有機(jī)物不能測試顆粒溶劑（Particle solubility）：水，正己烷，甲苯，某些醇類顆粒密度，液體密度，液體粘度――得到顆粒沉降速率。