1月11日至12日，備受矚目的后摩爾器件研討會在杭州順利召開。廣電計量作為第三方檢測機(jī)構(gòu)受邀參會，并攜半導(dǎo)體全產(chǎn)業(yè)鏈綜合技術(shù)解決方案亮相。公司黨委副書記、總經(jīng)理明志茂為大會優(yōu)秀poster獲獎?wù)哳C獎。
 

　　活動由西安電子科技大學(xué)杭州研究院、北京大學(xué)、杭州電子科技大學(xué)聯(lián)合舉辦。多位院士聽取了多個項(xiàng)目的匯報并進(jìn)行了審核，圍繞后摩爾時代芯片領(lǐng)域的關(guān)鍵問題展開深入探討與交流。

后摩爾器件研討會
 

　　“后摩爾時代新器件基礎(chǔ)研究”面向芯片自主發(fā)展的國家重大戰(zhàn)略需求，以芯片的基礎(chǔ)問題為核心，旨在發(fā)展后摩爾時代新器件和計算架構(gòu)，突破芯片算力瓶頸，促進(jìn)我國芯片研究水平的提升，支撐我國在芯片領(lǐng)域的發(fā)展與創(chuàng)新。
 

　　會議期間，來自清華大學(xué)、北京大學(xué)、中國科學(xué)院微電子研究所等院校的20多位專家學(xué)者，圍繞高能效的憶阻器存算一體芯片研究、突破異質(zhì)集成的新材料和器件原理研究等項(xiàng)目進(jìn)行匯報分享。經(jīng)過專家組的嚴(yán)格評審，大會最終評選出15份優(yōu)秀poster，并為其頒發(fā)榮譽(yù)證書。廣電計量黨委副書記、總經(jīng)理明志茂與中科院院士楊德仁受邀共同為獲獎?wù)哳C獎。
 

　　明志茂表示，廣電計量是全國綜合國有三方計量檢測上市集團(tuán)公司，面向國家戰(zhàn)略性產(chǎn)業(yè)、國家科技創(chuàng)新、國家質(zhì)量保障等方面積極開展布局，建有院士工作站、技術(shù)研究院，深度參與半導(dǎo)體全產(chǎn)業(yè)鏈建設(shè)，誠摯邀請各科研院所、高校專家聯(lián)合開展技術(shù)攻關(guān)，共同推動中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。

明志茂(左一)與中科院楊德仁院士(右一)為獲獎?wù)哳C獎
 

　　本次活動，廣電計量攜半導(dǎo)體綜合技術(shù)解決方案亮相，并發(fā)布廣電計量先進(jìn)集成電路可靠性評價技術(shù)數(shù)智化項(xiàng)目，聯(lián)動高校、科研院所、企業(yè)等產(chǎn)業(yè)鏈各方力量，聚焦先進(jìn)集成電路數(shù)字孿生建模、人工智能光模塊、宇航級芯片等方向的領(lǐng)域聯(lián)合開展科研攻關(guān)，共同為半導(dǎo)體自主可控貢獻(xiàn)技術(shù)力量。
 

　　在半導(dǎo)體領(lǐng)域，廣電計量是全產(chǎn)業(yè)鏈一站式綜合技術(shù)解決方案提供商，聚焦高功率、高速度、高集成和高算力的先進(jìn)半導(dǎo)體及超大規(guī)模集成電路國產(chǎn)自主可控需求，形成以博?、專家為核心的人才隊伍，打造8個專項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室及1個功能安全認(rèn)證中心，構(gòu)建性能功能測試、可靠性及失效機(jī)理分析評估、芯片設(shè)計與制程分析、質(zhì)量等級認(rèn)證、功能安全評估和量產(chǎn)與批產(chǎn)測試篩選等全棧式技術(shù)咨詢服務(wù)，可應(yīng)用在集成電路設(shè)計、晶圓制造、封裝、元器件應(yīng)用等全產(chǎn)業(yè)鏈環(huán)節(jié)。