本公司是專業(yè)兒童智力測(cè)試儀生產(chǎn)廠家,具有近二十年的生產(chǎn)歷史，用戶遍布各個(gè)省市大中小醫(yī)院，專業(yè)的性能、免費(fèi)即時(shí)的更新保證了產(chǎn)品更符合用戶需求，是進(jìn)行兒童智力檢測(cè)的理想設(shè)備。

兒童智力檢測(cè)儀主要功能： 對(duì)兒童智力進(jìn)行檢測(cè)。

測(cè)評(píng)方法： 1、丹佛智能測(cè)試（DDST）：可對(duì)0--6歲嬰幼兒進(jìn)行智力測(cè)試。

       2、圖片詞匯測(cè)試（PPVT）：對(duì)3歲半至9歲2個(gè)月的兒童進(jìn)行智力測(cè)評(píng)。

       3、繪人智能測(cè)試（MOD）：測(cè)試4--12歲兒童智商的成熟程度。

       4、聯(lián)合型瑞文稿測(cè)試（CRT-C3）：2007年新修定版本。

                              城鎮(zhèn)為6歲7個(gè)月--16歲6個(gè)月

                              非城鎮(zhèn)為6歲7個(gè)月--14歲6個(gè)月

兒童智力檢測(cè)儀測(cè)試時(shí)間

   DDST測(cè)試時(shí)間一般在10～30分鐘；

   PPVT根據(jù)被測(cè)試兒童的實(shí)際年齡而定，一般長(zhǎng)為20分鐘；

   MOD 測(cè)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間為20分鐘，兒童多在10分鐘之內(nèi)完成；

   CRT-C3測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間為20～40分鐘，大部分兒童可在20分鐘之內(nèi)完成

兒童智力檢測(cè)儀使用的常模：

   1.丹佛智能測(cè)試(DDST)為我國(guó)修訂，國(guó)內(nèi)常模。共105個(gè)項(xiàng)目，測(cè)量大動(dòng)作、語言、精細(xì)動(dòng)作-適應(yīng)性和個(gè)人-社會(huì)行為四

             大領(lǐng)域。主要用作智力篩選，可早期發(fā)現(xiàn)兒童存在發(fā)育遲滯或異常的可能性。

   2．兒童圖片詞匯測(cè)試(PPVT)為我國(guó)修訂，國(guó)內(nèi)常模。修訂版為120張圖片，每張圖片代表一個(gè)詞匯。

                 通過聽覺詞匯（語言）來測(cè)試兒童的智力水平。

   3．兒童聯(lián)合型瑞文測(cè)驗(yàn)( CRT-C3)為我國(guó)*新修訂，國(guó)內(nèi)常模。共6組72張圖片。瑞文測(cè)試是一種非文字智力測(cè)驗(yàn)，

                 通過圖形的辨別、組合、系列關(guān)系、邏輯思維能力等測(cè)試智力水平。

   4．繪人智能測(cè)驗(yàn)(MOD)為我國(guó)修訂，國(guó)內(nèi)常模。該方法是測(cè)定兒童智力的成熟程度。

                  繪人智商與韋氏及斯坦福比奈量表所得智商的相關(guān)系數(shù)為0.55～0.80，相關(guān)較為密切。

兒童智力檢測(cè)儀標(biāo)準(zhǔn)配置：

       A型儀器：軟件包：（包括丹佛智能測(cè)試、圖片詞匯測(cè)試、繪人智能測(cè)試、聯(lián)合型瑞文稿測(cè)試），臺(tái)車，音響設(shè)備，攝像設(shè)備，品牌電腦一套（包括電腦、觸摸式液晶顯示器、打印機(jī)）

如您需要了解專業(yè)兒童智力測(cè)試儀具體事宜，請(qǐng)！