EFX-1型兒童智力測(cè)試儀
的詳細(xì)介紹主要功能: 1、兒童智力測(cè)評(píng)功能。
2、感覺綜合能力測(cè)評(píng)功能。
測(cè)評(píng)范圍: 1、丹佛智能測(cè)試(DDST):可對(duì)0--6歲嬰幼兒進(jìn)行智力測(cè)試。
2、圖片詞匯測(cè)試(PPVT):對(duì)3歲半至9歲2個(gè)月的兒童進(jìn)行智力測(cè)評(píng)。
3、繪人智能測(cè)試(MOD):測(cè)試4--12歲兒童智商的成熟程度。
4、聯(lián)合型瑞文稿測(cè)試(CRT-C3):2007年新修定版本。
城鎮(zhèn)為6歲7個(gè)月--16歲6個(gè)月
非城鎮(zhèn)為6歲7個(gè)月--14歲6個(gè)月
使用的常模
1.丹佛智能測(cè)試(DDST)為我國(guó)修訂,國(guó)內(nèi)常模。共105個(gè)項(xiàng)目,測(cè)量大動(dòng)作、語(yǔ)言、精細(xì)動(dòng)作-適應(yīng)性和個(gè)人-社會(huì)行為四大
領(lǐng)域。主要用作智力篩選,可早期發(fā)現(xiàn)兒童存在發(fā)育遲滯或異常的可能性。
2.兒童圖片詞匯測(cè)試(PPVT)為我國(guó)修訂,國(guó)內(nèi)常模。修訂版為120張圖片,每張圖片代表一個(gè)詞匯。
通過(guò)聽覺詞匯(語(yǔ)言)來(lái)測(cè)試兒童的智力水平。
3.兒童聯(lián)合型瑞文測(cè)驗(yàn)( CRT-C3)為我國(guó)*新修訂,國(guó)內(nèi)常模。共6組72張圖片。瑞文測(cè)試是一種非文字智力測(cè)驗(yàn),
通過(guò)圖形的辨別、組合、系列關(guān)系、邏輯思維能力等測(cè)試智力水平。
4.繪人智能測(cè)驗(yàn)(MOD)為我國(guó)修訂,國(guó)內(nèi)常模。該方法是測(cè)定兒童智力的成熟程度。
繪人智商與韋氏及斯坦福比奈量表所得智商的相關(guān)系數(shù)為0.55~0.80,相關(guān)較為密切。
測(cè)試時(shí)間
DDST測(cè)試時(shí)間一般在10~30分鐘;
PPVT根據(jù)被測(cè)試兒童的實(shí)際年齡而定,*長(zhǎng)為20分鐘;
MOD 測(cè)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間為20分鐘,兒童多在10分鐘之內(nèi)完成;
CRT-C3測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間為20~40分鐘,大部分兒童可在20分鐘之內(nèi)完成
儀器標(biāo)準(zhǔn)配置:
A型儀器:軟件包:(包括丹佛智能測(cè)試、圖片詞匯測(cè)試、繪人智能測(cè)試、聯(lián)合型瑞文稿測(cè)試),臺(tái)車,音響設(shè)備,攝像設(shè)備,品牌電腦一套(包括電腦、觸摸式液晶顯示器、打印機(jī))