博曼固定臺多準直器鍍層測厚儀BA-100-B-MFF型號，采用X射線熒光（XRF）儀器的工作原理是對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量的分析

詳細介紹

博曼固定臺多準直器鍍層測厚儀BA-100-B-MFF使用的是Si-Pin半導體固態(tài)探測器，搭載高分辨率的固態(tài)探測器，能使探測器的分辨率提高，在測量相鄰元素更精確，儀器無需二次濾波器，峰位長時間保持穩(wěn)定，無需頻繁地用標準片校準儀器，客戶可以視情況而定，不用購買標準片。

博曼固定臺多準直器鍍層測厚儀還采用了良好的微聚焦X射線管，標定功率50瓦，設計功率300瓦，采用的銅管體，散熱懶得好，使其延長光管的壽命。

博曼固定臺多準直器鍍層測厚儀可提供多種規(guī)格的準直器：0.1、0.2、0.3、0.6、0.05*0.25mm等等，方便客戶測量不同大小及不規(guī)則樣品，另外可提供4種規(guī)格：0、0.1、0.5、1mm的一次濾波器。

博曼固定臺多準直器鍍層測厚儀采用智能的緊湊式設計使得分析各種各樣的應用變得更方便，在合理的價格范圍內(nèi)顯著提升您的鍍層產(chǎn)品質(zhì)量控制。

簡單的設計、強大的分析能力
快速、無損的分析
可測Ti22-U92元素

同時可zui多分析5層鍍層（4層鍍層+基材層）

成份分析zui多可達25種元素
基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計

直觀的用戶界面
zui大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
基于Net framework框架的Xralizer軟件
直觀的圖標引導用戶界面
強大的定性、無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
用于快速分析的可定制快捷鍵
靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
強大的編輯報告功能